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產品描述:AT-5000是新型的X射線鍍層測厚儀。它采用先進的半導體探測器，能精準測試任何復雜的鍍層結構，使用的定位系統，可以測試直徑很小的樣品。其強大的分析功能，足以在鍍層測厚領域大顯身手
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