| 品牌 | 上海 | 型號(hào) | 72C |
| 波長(zhǎng)范圍 | 325nm～1100nm（nm） |
72C可見分光光度計(jì)(自動(dòng)波長(zhǎng))
72C產(chǎn)品適用于對(duì)可見光譜區(qū)域內(nèi)物質(zhì)的含量進(jìn)行定量分析，可廣泛應(yīng)用于工廠、學(xué)校、冶金、農(nóng)業(yè)、食品、生化、、石油化工、衛(wèi)生等單位的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)室。
自動(dòng)波長(zhǎng)，鍵盤輸入，波長(zhǎng)設(shè)定和轉(zhuǎn)換更快速。一階過、一階線性標(biāo)準(zhǔn)曲線測(cè)試，多可建立12個(gè)標(biāo)樣點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)曲線。標(biāo)定曲線擬合度，濃度結(jié)果直接顯示，可保存50條曲線參數(shù)。濃度因子設(shè)定和濃度設(shè)定的濃度直讀功能，可保存200條測(cè)試記錄。系統(tǒng)時(shí)鐘管理，暗電流校正，波長(zhǎng)校正，U數(shù)據(jù)接口。UV-Solution 2.0工作站軟件，具有各種測(cè)試、掃描功能(72C)主要技術(shù)指標(biāo)：◆波長(zhǎng)范圍：325nm～1100nm◆波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：&plun;1nm◆波長(zhǎng)重復(fù)性：≤0.5nm◆光譜帶寬：2nm◆比準(zhǔn)確度：&plun;0.5%(τ)◆比重復(fù)性：≤0.2%(τ)◆測(cè)定范圍：T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999◆穩(wěn)定性/基線漂移：&plun;0.002A/h◆基線直線性：&plun;0.004(A)◆雜：≤0.2%(τ)(在360nm處,以Na2測(cè)定)◆顯示器：128×64大屏幕液晶顯示軟件功能說明| 軟件型號(hào) | 適用儀器 | 軟件功能 |
| UV-Solution 2.0 | 72C | 定量測(cè)試：可進(jìn)行一、二、三階擬合標(biāo)準(zhǔn)曲線測(cè)試，多可通過20個(gè)標(biāo)樣建立標(biāo)準(zhǔn)曲線。可選擇單波長(zhǎng)，雙波長(zhǎng)或三波長(zhǎng)條件下測(cè)試。動(dòng)力學(xué)測(cè)試：對(duì)樣品進(jìn)行時(shí)間掃描，測(cè)試時(shí)間可達(dá)7天。采樣時(shí)間0.5、1、2、5、10、30、60秒可選，可保存10000條測(cè)試數(shù)據(jù)。波長(zhǎng)掃描：在任意波長(zhǎng)范圍內(nèi)以0.1、0.2、0.5、1、2、5nm的掃描間隔對(duì)樣品進(jìn)行掃描，并對(duì)圖譜進(jìn)行縮放、平滑、四則運(yùn)算、坐標(biāo)調(diào)整、峰/谷自動(dòng)檢測(cè)、1~4階導(dǎo)數(shù)等數(shù)據(jù)處理，可容納八個(gè)掃描圖譜。多波長(zhǎng)測(cè)試：多可設(shè)置15個(gè)測(cè)試波長(zhǎng)點(diǎn)。數(shù)據(jù)導(dǎo)出：數(shù)據(jù)和圖譜可導(dǎo)出為txt和bmp格式文件供用戶編輯。 |
