D光學影像DIC偏光顯微量測復合儀中偏光顯微鏡系統(tǒng)是將精銳的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、的計算機圖像處理技術、光學量測完美地結合在一起，可以在計算機顯示器上很方便地觀察到物體分子產生的正立的三維空間像，立體感強，成像清晰和寬闊，具有較長的工作距離，對偏光圖譜進行分析等對圖片進行輸出、打??；同時又可以進行光學量測，結合本公司自行研發(fā)的軟體，可以對工件各個測量元素進行高度的量測，并可以EXCEL、WORD、TXT格式輸出做數據分析。 1. X/Y/Z三軸光學尺2. OVM-Lite版光學影像量測軟件3. :3 L/200μm4. CCD: 日本原裝SENTECH CCD5. 鏡頭:NIKON微分干涉偏光鏡頭模塊 具體型號 VM-偏光250 VM-偏光300 VM-偏光400 (X/Y/Z軸)量測行程(mm) 250*150*200   300*200*200 400*300*200 全機尺寸(mm) 1000*650**650**650*1650 機臺底座和立柱材料 高花崗石 CCD 3DFAMILY彩色CCD X,Y軸量測 （3 L/200）um 放大倍率 43萬像素日本原裝彩色CCD 光學尺解析度 1 um 重復性 2 um 操作方式 手動 　機臺承重 30KG 電源供給 110/220V 合適溫度，濕度 溫度：19°--24°，濕度：45%--75% 保修期 1年以上是3D光學影像DIC微分干涉偏光顯微量測復合儀的詳細信息，如果您對3D光學影像DIC微分干涉偏光顯微量測復合儀的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯(lián)系我們獲取3D光學影像DIC微分干涉偏光顯微量測復合儀的新信息。