XLE-2型大平臺檢測顯微鏡是專為IT行業大面積集成電路，晶片的質量檢測而設計開發制造的。主體為：正置式、三目鏡筒，比傳統的顯微鏡更適合于觀察。上部安裝彩色攝像機連接彩色監視器直接觀察。可連接計算機打印、照片或連接數碼相機，照相機直接拍照，還可以直接進行圖像記錄，并建立技術檢測檔案，存儲、查詢，可省去復雜煩瑣的攝影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。 檢測顯微鏡具有獨特的特點： 1）放大倍數：40倍至500倍； 2）超大型載物臺，樣品可作大范圍的縱、橫方向快速移動，擴大檢測領域的使用范圍，適用于電子、冶金、機械、化工、科研、院校等部門，以及金相技術檢驗，失效分析等主要技術參數1.機械筒長 160mm2.物鏡放大倍數 數值孔徑有效工作距離（mm）介質4×0.1017.912干10×0.256.544干20×0.401.05干40×0.650.736干 3.目鏡放大倍數焦距視場直徑備注10×2518 12.5×2514選配4.放大倍數 40×--400×5.載物臺面積 350mmX255mm 縱向移動范圍---200mm 橫向移動范圍---200mm6.粗微動調焦范圍 25mm,微調轉動一圈樣品升降0.2mm,格值 0.002mm7.光源 鎢鹵素燈6V20W。內藏式連續調光電源8.物鏡轉換器 四孔式 (三孔式)9.目鏡筒 三目鏡 (雙目鏡)以上是大平臺檢測顯微鏡(教育安防機械工業江蘇的詳細信息，如果您對大平臺檢測顯微鏡(教育安防機械工業江蘇的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯系我們獲取大平臺檢測顯微鏡(教育安防機械工業江蘇的新信息。
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