光學系統像質評價工程上主要采用分辨率法和光學傳遞函數(MTF)測量法。分辨率法測量多用于大像差系統，實驗簡便直觀；MTF測量法適用于一些高分辨率的光學系統。以上兩種測量方法已廣泛應用于工程實實踐中。本實驗參照《工程光學》教材中“光學系統的像質評價”相關知識點設計開發而成。 實驗內容：1、分辨率板直讀法測量光學系統分辨率實驗；2、利用變頻朗奇光柵測量光學系統MTF值實驗；3、基于線擴散函數測量光學系統MTF值實驗。 主要設備參數：1.平行光管組件：光源：白光/三色LED，P>1W，亮度連續可調；平行光管：D/F=1:8，L=550mm，f=400mm；MTF目標物：線寬度10μm，1μm。2.測試組件：變頻朗奇光柵；美軍標USAF1951分辨率板，分辨力1～228C/mm,1μm。3.機械組件：精密光學導軌： L×W=1200mm×90mm，配套滑塊、一維移動滑塊、調節支座、支桿；高調節鏡架，穩定性 <2′。4.光學組件：光學透鏡：Φ40mm，光潔度III級，f=150～300mm 。5.探測器組件：數字CMOS相機：130萬像素，像素大小5.2μm×5.2μm，usb2.0,A/D：10bit 。6.講義及快速安裝指南。7.軟件組件：相機標定模塊，光學系統分辨測量模塊，MTF計算模塊。 選配設備參數：1、儀器設備防塵罩：外形尺寸：1400mm×360mm×300mm；觀察窗材料：亞克力透明擋板。2、計算機（基本配置）。以上是光學系統傳遞函數測量實驗的詳細信息，如果您對光學系統傳遞函數測量實驗的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯系我們獲取光學系統傳遞函數測量實驗的新信息。