優異的光學技術

精密元器件的非接觸式測量要求高分辨率、高對比度成像、和結合一個精密的測量平臺。

Kestrel采用英國工業顯微鏡有限公司的高能光學技術，為快捷和簡易的測量，提供強化的表面清晰度。優異的光學透明度同時能同步地進行細致的視覺檢測。

有所視頻系統數碼化光學信息。Kestrel與其區別之處，是運用一個沒經過測量前處理的純光學成像。元器部件必能準確地被測量。

 選配件和附屬配件

表面光和底部光照明裝置選配件能使光源調節適用于任何測量應用。表面光照明裝置由2組半共軸射燈提供，可加裝同軸光裝置（光線透過物鏡）的選配件，用于觀察盲孔或深層形狀。快速更換的放大倍率選配件是：x10倍、x20倍、x50倍（x20倍作為標配）。

輪廓		表面		輪廓和表面

精密測量平臺

測量是在一個高性能的三層鋁制板平臺上進行，提供150毫米 x 100毫米的測量范圍。平臺是用萬向架支承著，能確保臨界平行定位，平臺均已通過非線性誤差修正（NLEC）方法進行出廠前的預裝校準，以保證優良的，這校準可溯及NPL/NAMAS/NIST國際標準以符合ISO9000質量。結合1μm分辨力的測量譯碼器，這保證該系統5μm的可重復性。

 

直觀的微處理器

數據處理由 QC-200 多功能微處理器完成。QC-200適用于測量二維的形狀，并且以操作簡便為主的設計，采用了一個直觀的界面裝置及有實質的視覺顯示。X和Y坐標測量是以數字和圖解形式表示。結果可通過并行打印機端口被編寫打印或通過串聯端口連接輸出到其他應用軟件。

二維測量系統微處理器 - QC-200

Quadra-Chek 數字讀數器及計量軟件是二維幾何元器件測量和檢測的首要系統。QC-200數字讀數器是Kestrel非接觸式測量系統的標準界面裝置，提供一個強勁的組合準許使用者能夠沿著測量過程的每一步驟。的功能減少反復的測量，并簡化復雜的工作步驟。

 

直觀的使用者界面裝置

一貫的、直觀的界面裝置保證操作員的準確性和減少培訓時間。

 

測量戲法?

要進行測量，只需簡單地將光標移至測量點并按擊。無須操作員介入，QC-200辨別被測形狀的類型。的測量戲法?功能，使用者無須改變對零部件的視線就能檢測多個形狀，提高效益、改進準確性和減少使用者的疲勞過度。

在不中斷工作流程下，一個能聽到的聲音從內置揚聲器發出，提醒使用者的操作，加快數據輸入。

 

零部件編程

性編寫一個測量次序，然后能按你所需重復地運行。在相同的位置和次序里，一個又一個地對每個零部件，測量等量的點數。

 

交叉及構建

通過選擇曾測量的形狀的記錄，獲取實質的交叉及構建結果，并以圖解式顯示。

 

幾何公差 (optional)

QC-200 特有的圖解式說明瞬時地顯示關鍵零部件尺寸的合格 / 不合格測量細節。結果和重要的測量數據被展示在有序的綜合LCD液晶顯示屏上。

測量結果		交叉及構建		數據云技術

內容相關的幫助

QC-200利用圖解計算、內容相關的幫助，縮小培訓時間和開支，通過Quadra-Chek界面裝置規則引導車間人員。

 

選配件

為工種使用適當的工具。選配的遙控鍵盤、腳踏開關和打印機幫助操作員更便于地采集精密的測量數據，同時精簡作業流程。

 

語言種類

標準版本QC-200 能適用于英語、法語、德語、意大利語、葡萄牙語、西班牙語、瑞典語、捷克語、波蘭語、土耳其語、漢語和日語等多國語言。
 

Kestrel測量顯微鏡 - 技術規范

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