TriStar II3020新一代全自動比表面積和孔隙度分析儀,可同時進行三個樣品的分析從而提高分析效率，提供全吸附、脫附曲線、BET及 Langmuir比表面、平均孔尺寸和單點總孔體積、BJH中孔、大孔體積、面積分布、總孔體積、de Boer t-plot數(shù)據(jù)處理微孔體積和表面積，厚度公式、αs-plot和f-ratio 法、MP法。
歧管和三個樣品分析站分別配有獨立的傳感器，可以同時的測量三個樣品，PO管同樣擁有獨立的壓力傳感器。
軟件配備自檢系統(tǒng)，方便用戶自行檢測儀器
選配的分子渦輪泵以及10mmHg可以將儀器升級到微孔單元。
技術(shù)參數(shù)：
1.比表面測量范圍為氮氣吸附0.01m2/g 至無上限，氪氣吸附0.0001m2/g 至無上限
2.孔徑分析范圍：3.5 埃～5000 埃，
3.測量5 點BET 比表面僅需20 分鐘。
4.重復性優(yōu)于1％。
5.真正的三站同時測量。每個分析站均有獨立的高壓力傳感器。
6.新的軟件字幕，以太網(wǎng)口連接主機和電腦的通訊數(shù)據(jù)線，內(nèi)置電子檢測點和強大的儀器自診斷功能.
7.可升級至微孔單元，選配的分子渦輪泵和10mmHg高壓力傳感器
8.多種樣品制備系統(tǒng)可選。
主要特點：
分析方法包括
♦全吸附、脫附曲線（吸附脫附曲線都做到1000 個測量點）
單點或多點BET 比表面積
♦Langmuir 比表面
♦平均孔尺寸和單點總孔體積
♦BJH 吸附/脫附曲線，中孔、大孔信息
（體積、面積分布）
♦Harkins Jura 厚度層公式
♦Halsey 厚度層公式
♦中孔和大孔體積、面積對孔徑分布
♦NLDFT 非定域密度函數(shù)理論
♦總孔體積♦Validation reports
♦ 專為企業(yè)服務(wù)的SPC（Statistical Process Control 統(tǒng)計過程控制）。
♦ Dollimore-Heal adsorption and desorption
♦ Kruk-Jaroniec-Sayari correction
♦de Boer t-plot（數(shù)據(jù)處理微孔體積和表面積，厚度公式）
♦αs－plot ♦f-ratio
♦MP 法，Harkins Jura 厚度層公式，Halsey 厚度層公式，
♦Kruk-Jaroniec-Sayari correction
♦STSA 碳黑外比表面
♦DFT 和比表面能分布( 密度函數(shù)理論)
♦summary report 總結(jié)
