梅特勒AB265-S高分析天平
產品參數
量 程： 61/220g
精 度： 0.01/0.1mg
稱盤尺寸： Φ80
線 性： ±0.2mg*
重 復 性： 0.05/0.1mg
外型尺寸： 245×321×344mm
產品用途
本產品適用于各地研究所和實驗室
主要特點
1.采用高分辨率的稱量單元，滿足用戶高的稱量需求
2.稱量單元保護裝置（CellProtector），提高產品的抗沖擊、過載性能
3.堅固的金屬機架，避免稱量樣品的污染，延長天平的使用壽命
4.可讀性為0.1mg天平采用背亮式液晶顯示屏（Backlit LCD），方便用戶讀取稱量結果
5.內置砝碼校準，確保稱量結果的準確性
6.雙量程（DualRange）設計，滿足客戶對不同樣品的稱量需求
7.可以拆除的防風罩設計，實現天平的快速清潔
8.內置RS232通訊接口，方便連接打印機、電腦等外圍設備
9.標配機架塑料保護罩（Protective cover），避免散落樣品的腐蝕
10.具有簡單稱量、百分比稱量、計件稱量和動態稱量等內置應用程序
AB-L：外置砝碼校準（需選購）；
AB-S：內置砝碼校準；
AB-IC：內置砝碼校準；
AB-S/FACT：采用溫度漂移及時間設置觸發的全自動校準技術（FACT）。
（1）精細量程內10 g樣品典型重復性：0.02mg ；
（2）精細量程內10 g樣品典型線性：0.03mg
