儀器簡介：
Quanta FEG系列場發射環境掃描電子顯微鏡是FEI公司的新產品之一。是在FEI公司產品XL30 EM-FEG場發射環境掃描電子顯微鏡的基礎上發展而來的。
Quanta FEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和EM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢，可對各種各樣的樣品（包括導電樣品、不導電樣品、含水含油樣品、加熱樣品等等）進行高分辨的靜態和動態觀察和分析。
Quanta FEG和Quanta一樣具有優異的系統擴展性能，可同時安裝能譜儀、波譜儀、EBSP、陰熒光等附件。
技術參數：
1.分辨率：
二次電子:
高真空模式1.0nm @ 30kV; 3.0nm @ 1kV
高真空減速模式2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可選項)
低真空模式1.4nm @ 30kV; 3.0nm @ 3kV
環境真空模式1.4nm @ 30kV
背散射電子:
高真空和低真空模式: 2.5nm @ 30kV
掃描STEM探測器:
0.8nm @ 30kV
2.加速電壓200V～30kV,連續可調
3.高穩定性Schottky場發射電子
4.束流200nA
5.樣品室壓力達4000Pa
6.樣品臺移動范圍
Quanta 250 FEG: X=Y=50mm
Quanta 450 FEG: X=Y=100mm
Quanta 650 FEG: X=Y=150mm
主要特點：
1.數字化系統控制，Windows XP操作系統
2.場發射環境掃描系統兼顧高分辨和樣品多樣性
3.數字電影功能可將觀察過程記錄為avi視頻文件
4.穩定的大束流(200nA)、準確的能譜、波譜和EBSD分析
5.可安裝冷臺、加熱臺、拉伸臺等進行樣品原位、動態觀察和分析
