可測量從0nm開始的低相位差（殘留應力）。
檢測光學軸的同時，同步測量相位差 (Re.)。(世界速0.1秒以下的測量解析)
偏光檢測儀驅動干擾，可再現性測量。
無需復雜參數設定，操作簡單易懂。
550nm以外，亦可支持其它波長測量。
Rth測量、全角度測量。(需搭配自動旋轉傾斜裝置)
搭配拉力測試機可同時測量薄膜偏光特性與光彈性。(此系統為規格)
液晶層間隙檢查機 RETS series 相位差測量檢測機 RETS-100
RE-100為采用光結晶像素與CCD感測器所構成的偏光檢測儀。搭配帶有穿透率性質的各式偏光元件，可以同時進行相位差與光學軸的測量。
CCD感測器會自動擷取經過偏光后所呈現的畫面，不需要任何的驅動軸來尋找偏光后的受光強度。不但可再現性的、更具備長時間使用的安定性。
■相位差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角膜、各種機能性薄膜、
■樹脂、玻璃等透明帶有低相位差之樣品(玻璃殘留應力)
■ 視野角膜 A
■ 視野角膜 B
■ 自動旋轉傾斜裝置
偏光檢測儀在生產線上的應用 (In-line Process)
■U傳輸，可適用于多種環境的架設。
■速測量，適用于生產線中的即使監控。
■可搭配復數偏光檢測儀，同時進行多點位、多角度(Rth)測量。
