三豐表面粗糙度測量儀SV-3000M4
178系列—表面粗糙度測量儀
表面粗糙度測量儀SV-3000M4可進行高、高水平分析和多功能粗糙度測量。
特點
三豐表面粗糙度測量儀SV-3000M4可進行高、高水平分析，多功能3D表面粗糙度分析，微細輪廓測量，以及原有的表面粗糙度測量。
自動調水平工作臺、3軸調整臺等外部設備的應用，增強了該產品的操作性能，同時也真正實現了自動測量。
安裝了資料分析軟件SURFPAK-SV使用這一軟件，可對從車間和實驗室中得到的資料進行統一格式的管理。
采用陶瓷制作的X軸驅動部導軌，因為陶瓷具有好的磨損性能。無需潤滑油也能正常工作。
為了高測量，在X軸和Y軸(選件)上都內置了高清晰度的玻璃尺(X軸分辨率：0.05μm,Y軸分辨率：1μm)因為要SV-3000M4產品具有高度的性，是對于水平粗糙度參數(S,),X軸的分辨率就須相當的水平。
配有高測針。
配有多種功能，如“直線度補償功能”，可X軸的線性；“圓度補償功能”，可測針的垂直移動；以及“針尖半徑補償功能”等。
測針和測針導頭都可輕松替換。可選測針和滑軌可適應各種粗糙度測量的需要，如小孔測量、深孔測量等。
在各種型號中，還提供了易于操作的控制箱。控制箱與主機分離，可遙控執行定位、開始／停止測量、返回以及遠程進行其他操作。驅動部的上／下位置和X軸的移動都可手動進行微調。
技術參數
X軸
測量范圍:100mm
分辨率:0.05μm
檢測方法:線性編碼器
驅動速度:0-80mm/s
測量速度:0.02-5mm/s
移動方向:向后
直線度:(0.05+1L/1000)μm*
傾角范圍:&plun;45º
Z2軸(立柱)
垂直移動:300m 手動
檢測器
范圍／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,
8μm/0.0001μm(使用測頭選件
時，可達2400μm)
檢測方法:無軌／有軌測量
測力:4mN或0.75mN(低測力型)
測針針尖:金剛石、90º/5μmR
(60º/2μmR:低測力型)
導頭曲率半徑:40mm
檢測方法:差動電感式
基座尺寸(WxH):
基座材料:花崗巖
尺寸(WxDxH):710x50x711mm(M4型)
重量140kg(M4型)
*L為驅動長度(mm)
評估能力:SURFPAK-SV(中文)
評估輪廓
P(主輪廓),R(表面粗糙度輪廓),WC,WCA,WE,WEA,
DIN4776輪廓、包絡殘余線、粗糙度motif、波形motif
評估參數
Ra,Rq,Rz,Ry,Rz(JIS),Ry(DIN),Rc,Rp,Rpmax,Rpi,Rv,Rvmax,Rvi,
Rt,Rti,R3z,R3zi,R3y,S,Pc(Ppi),,HSC,mr,dc,plateauratio,
mrd,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,Da,Dq,la,lq,Sk,Ku,Lo,Lr,A1,
A2
粗糙度motif參數:Rx,R,AR,SR,SAR,NR,NCRX,
波形motif參數:Wte,Wx,W,AWSW,SAW,NW
分析圖表
ADC,BAC1,BAC2、功率譜圖、自相關圖、Walsh功率
譜圖、Walsh自相關圖、傾斜分布圖、局部峰值分布圖、
參數分布圖
濾波類型2CR-75%,2CR-50%,2CR-75%(相位校正),
2CR-50%(相位校正),高斯-50%
截止波長*
lc:0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm
fl:0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm
fh:0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm
取樣長度(L)*
0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm
取樣長度
傾斜補償、R平面(曲面)補償、橢圓補償、拋物線補償、
雙曲線補償、二次曲線自動補償、多項式補償、
多項式自動補償
可在0.025mm至移動長度間指定任意長度。
配選件:
178-042-1:DigimaticXY調水平工作臺(25x25mm)
178-023:震臺
178-024:震臺架
電腦:DELL主機,CPU雙核3.0,1G內存,17寸液晶顯示器!XP系統
軟件:SURFPAK-SV(中文)
