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宏展

超低濕試驗箱，除了可仿真產品在一般氣候環境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存、溫度循環、高溫高濕、結露試驗)..等，去檢測產品本身的適應能力與特性是否改變，以及針對產品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等)環境下是否會發生龜裂、破損，另外在低濕環境中的空氣靜電量是一般環境的30倍以上，據統計，半導體破壞率：59%是由靜電所引起的。
※ 需符合國際性規范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以達到國際間量測程序一致性(含測試步驟、條件、方法)避免認知不同，并縮小量測不確定的因素范圍發生。

執行標準.中國國家標準分為強制性國標（GB）和推薦性國標（GB/T） 
中國國家標準,GB 10586-89濕熱試驗箱技術條件   
中國國家標準,GB 10592-89高、低溫試驗箱技術條件   
中國國家標準,GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件   
　   
滿足標準   
國際電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩態濕熱   
國際電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷   
國際電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱   

美國軍用標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度   
美國軍用標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫   
美國軍用標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫   
美國軍用標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環試驗   
美國軍用標準,MIL-STD810D方法502.2   
美國軍用標準,MIL-STD810方法507.2程序3   

日本工業標準,JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩態   
日本工業標準,JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱   
日本工業標準,JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫   

美國半導體行業標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗   
美國半導體行業標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗   
美國半導體行業標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗   

中國國家標準,GB/T 2423.1-2001 低溫   
中國國家標準,GB/T 2423.2-2001 高溫   
中國國家標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法   
中國國家標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環試驗   
中國國家標準,GB/T2423.4-93方法   

中國國家軍用環境試驗設備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗

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