產品品牌：

上海

產品型號：

15J

類型：

光學顯微鏡

15J測量顯微鏡
用途
測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣，用途如下：
1．直角坐標中測定長度，例如測定孔距、基面距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑、電線電纜絕緣皮厚度等。
2．轉動度盤測定角度，例如對刻度盤、樣板、量規、鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3．用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。 主要規格 放大倍數：25X、100X
X軸移動測量范圍 50 mm
Y軸移動測量范圍 13 mm
測微器分度值 0.01mm
測量臺轉動范圍 不限
測量臺刻度盤分度范圍 0°-360°
測量臺刻度盤之分度值 1°
測量臺刻度盤游標讀數示值 6’

測量
儀器示值誤差：±（5+L/15）μm
儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統誤差
注：測量地點溫度變化（20±3）℃
L-被測件長度（mm）

儀器主要尺寸
測量臺與物鏡間之距離 80mm
測量工作臺直徑 120mm
儀器外形尺寸 262×220×325mm