經(jīng)過多年的努力，武漢佰力博科技已經(jīng)在材料物理性能表征測量領域成功積累了豐富的測量經(jīng)驗，為了更方便的研究高低溫條件下材料的介電性能，我公司攜手國內(nèi)院校聯(lián)合開發(fā)出PST-2000H高低溫介電綜合測量系統(tǒng)。
高溫介電測量系統(tǒng)可用于分析寬頻、高低溫條件下被測樣品的阻Z，電X，導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，同時還可以分測量樣品隨溫度、頻率變化的曲線。通過PST-Dconstant軟件將這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻譜、介電譜、cole-cole圖等集成一體并進行分析進行分析測量，高溫介電測量系統(tǒng)測量的頻率從20Hz--10MHz,測量的溫度從室溫--1000℃。
目前高溫介電測量系統(tǒng)可廣泛應用于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。
高溫介電測量系統(tǒng)特點：
1、高溫實現(xiàn)從室溫到1000℃，升溫斜率:2℃/min,控溫:±1℃；
2、測量頻率從20Hz-10MHz,測量0.05%；
3、高溫介電測量系統(tǒng)采用鉑金電和引線,高溫樣品桿1000℃不氧化；
4、高溫介電測量系統(tǒng)采用平行板電容器設計原理，樣品放置位置靈活，可快捷安裝和拆卸；
5、高溫介電測量系統(tǒng)采用設計處理和軟件補償，解決了因測量導線過長造成的測量誤差等問題；
6、高溫介電測量系統(tǒng)采用可控硅和PID控溫，發(fā)熱功率800W；
7、樣品桿采用設計，樣品損壞率低，并能與電保持良好接觸。
8、樣品和樣品桿之間經(jīng)設計及加工，緣性能優(yōu)良，解決了在高溫條件下樣品和樣品桿之間緣難的問題；
9、系統(tǒng)阻分析儀可以配置英國WK精密阻分析儀，可以配置Agilent4294A或E4980A；
10、中文軟件操作界面，菜單便捷，使用方便；
11、豐富多樣的曲線圖輸出，軟件可提供溫度譜、偏壓譜、阻譜、頻率譜、時間譜、介電譜、Cole-Cole圖，可在多窗口之間方便切換；
12、掃描多可達1600個點，具有線性和對數(shù)掃描；
13、提供-40V至+40V的直流偏置電壓，可以測量樣品C-V曲線；
14、數(shù)據(jù)可通過主機U接口直接存儲，也可通過GPIB接口和軟件進行存儲。
15、提供二年內(nèi)功能升級的服務；
16、高溫介電測量系統(tǒng)還可以擴展測量樣品在變溫條件下的I-V曲線、電阻率測量、熱釋電、磁電容等測量功能；
高溫介電測量系統(tǒng)技術指標：
| 測量儀器 | 精密阻分析儀WK6500B系列（系統(tǒng)配套推薦） | |
| 測量頻率 | 20Hz—120MHz(常溫)；20Hz—10MHz（變溫） | |
| 測量溫度 | 室溫—1000°C | |
| 測量功能 | 頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻譜、介電譜、cole-cole圖 | |
| 阻測量 | ||
| 測量參數(shù) | Capacitance 電容(C)：0.01PF～1F ；Inductance電感 (L)：0.1nH～100KH Resistance 電阻(R)： 0.01 mΩ～2G Ω ；Reactance電 (X)： 0.01 mΩ～2G Ω Conductance 電導(G)：0.01ns～1000S ；Susceptance電納 (B)：0.01ns～1000S Impedance 阻(Z)：0.01 mΩ～2G Ω ；Admittance Y參數(shù) (Y)：0.01ns～1000S Phase Angle 相位角(?)：-90°～+90° | |
| 等效電路 | 串聯(lián)或并聯(lián) | |
| AC電平 | 10 mV to 1V rms；200 μA to 20 mA rms | |
| 直流偏壓 | 100 mA 直流偏流（D1選件）；±40 V直流偏流（D2選件） | |
| 測量 | 消耗因數(shù)(Dissipation factor) : ±0.0005 (1+D2)；品質(zhì)因數(shù)(Quality factor): ±0.05 %( Q+1/Q) 電容/電感/阻: ±0.05% | |
| 操作模式 | 繪圖掃描模式 ：允許繪制和掃描兩種測量參數(shù)。掃描參數(shù)——頻率，水平驅動或者是直流偏壓；儀表模式 ：可以作為標準的 LCR 表使用設定組織數(shù)據(jù),每個模式都有 20 組數(shù)據(jù)可以存儲在儀器內(nèi)。 | |
| 電容保護功能 | 提供內(nèi)置充電電容保護裝置，儀器被電容損壞，具有高壓倒灌保護裝置 | |
| 波形處理 | 峰值搜索和局部分析曲線放大分析功能 | |
| 測量速度 | 測量速度快20s | |
| 數(shù)據(jù)處理 | 測量波形數(shù)據(jù)自動轉換成CSV、BMP文件格式 | |
| 掃描顯示 | 50、100、200、400、800、1600 | |
| 測量夾具 | 多種夾具可供客戶選擇；也可以為客戶定制 | |
| 儀器外觀 | 高190mm(7.5")； 寬440mm(17.37")，深527mm(20.5")；重14.5Kg(32 lb) | |
| 通訊接口 | U、screen shot、LAN、VGA及GPIB接口 | |
| GWM-200高溫測量裝置 | ||
| 測量溫度 | 室溫-1000° | |
| 升溫時間 | 室溫-700°升溫時間為20分鐘，室溫-1000°升溫時間為40分鐘， | |
| 升溫斜率 | 2℃/min | |
| 控溫 | ±1℃ | |
| 控溫方式 | 采用PID控溫 | |
| 高溫樣品桿 | 、1000°不氧化、電阻低、緣好 | |
| 測試方法 | 兩線法和四線法 | |
| 緣材料 | 氧化鋁陶瓷緣，模具加工 | |
| 高溫爐尺寸 | 650mm(L)*430mm(W)*690mm(D) | |
| 重 量 | 20Kg | |
partulab-Dconstant高溫介電測量系統(tǒng)分析軟件
partulab高溫介電測量系統(tǒng)分析軟件采用Labview語言平臺開發(fā)，高溫介電測量系統(tǒng)通過與阻分析儀的結合，提供比阻分析儀本身更豐富的測量功能，高溫介電測量系統(tǒng)實現(xiàn)高溫譜（參數(shù)-T）、頻率譜（參數(shù)-f）、時間譜（參數(shù)-t）、阻譜（Z-f-T）、介電譜（ε-T-f）、偏壓譜(C-V)、Cole-Cole圖等多種掃描曲線，數(shù)據(jù)輸出格式為CSV格式，可進行更詳細的數(shù)據(jù)分析和處理操作。
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