日本SII精工X射線熒光元素分析儀SEA6000VX ,分析儀器

概述：

    一臺測量范圍涵蓋了RoHS/ELV分析及其他分析的能量色散型X射線熒光分析儀。配備有獨自開發的

    無需液氮的高計數率檢測器「Vortex」及全新設計的X射線發生系統，使得檢測靈敏度較從前提升了10倍

    以上。因此，也縮短了0.5mm~1.2mm的微小區域的測量時間。通過提升微小區域的測量靈敏度以及配合了

    高速電動平臺，實現了二維元素掃描成像的快速化。

主要特點：

  1.快速掃描測量
    通過提升微小區域的測量靈敏度以及配合了高速電動平臺，可快速獲得二維元素掃描圖像。

    特別是強化了對線路板中鉛的掃描測量能力，配備了鉛掃描專用的濾波器。可掃描檢測出

    無鉛焊錫中1,000ppm以下的鉛。

  2.寬視野高清晰度的光學系統
    可獲得250mm×250mm的20μm以下的高清晰度光學影像。從該光學影像可以指定測量位置，

    儀器的操作性得到了飛躍般的提升。此外，該光學影響還能和掃描后獲得的影像進行重疊，從

    而實現了高的圖像解析。

  3.快速測量微小區域的微量金屬
    通過所配備的高密度微小X射線束和高計數率檢測器，以及充分考慮到X射線熒光檢測效率的設計，

    實現了測量的高靈敏度。可短時間測量微小區域的微量金屬或薄膜。僅需100秒左右的時間就可檢

    測出1mm×1mm微小區域中的有害物質

  4.無需液氮的高計數率檢測器
    標準配備了精工納米獨自研發設計無需液氮的高計數率檢測器Vortex。免去了繁瑣的液氮補給過程。

    開機時間也僅為短短數分鐘，電子冷卻系統更是值得信賴。減少了液氮在制造、運輸時產生的二氧化

    碳的排放，同時因為高效率的檢測速度而減少了電力的消耗，是一款環保型的儀器的因為可以在真空

    環境下測量，所以測量范圍擴大為Na～U。（選配）。

  5.連續測量
    從所取得的寬視野樣品觀察畫面到樣品臺上的樣品可多記錄500個樣品位置，可對不同測量條件的

    樣品進行連續 測量。

  6.微小區域的鍍層厚度測量
    只需10秒左右的時間，便可對0.2mm×0.2mm大小的Au/Ni/Cu（金/鎳/銅）等薄膜多層鍍層的鍍層厚度

    進行高 測量。同時也可以對無鉛焊錫鍍層或化學鎳鍍層中含有的微量鉛進行分析測量。

產品規格：