面測(cè)華科電子主要為電子產(chǎn)品廠家提供完善的制程服務(wù)。產(chǎn)品包括：靜態(tài)測(cè)試儀ICT（TR-518FE，TR-518FR，JET-300NT等），動(dòng)態(tài)測(cè)試儀（FCT）BGA測(cè)試治具，電腦自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，SMT/DIP過(guò)爐治具等﹔提供各種ICT的維修，保養(yǎng)，培訓(xùn)等技術(shù)支持﹔治具耗材：談針，軸承，牛角，排線等銷(xiāo)售。

自動(dòng)學(xué)習(xí)、優(yōu)化和調(diào)整測(cè)試方法  自動(dòng)隔離  IC 漏插及方位檢測(cè)  顯示十個(gè)多錯(cuò)誤組件情況 重復(fù)測(cè)試 針號(hào)檢索功能 自我診斷功能
在掃描儀和探針閑刪除游離電容以得到準(zhǔn)確的小電容值 提供每天或累計(jì)測(cè)試結(jié) 果電容恒壓源充電方式能提高測(cè)試速度

軟件特性: 
超強(qiáng)調(diào)試方式 
主要針對(duì)作進(jìn)一步微調(diào)學(xué)習(xí)和測(cè)試程序， 優(yōu)化測(cè)試結(jié)果，可編改驅(qū)動(dòng)電流，延遲時(shí)間及測(cè)試頻率.
操作簡(jiǎn)易 只要經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)易的講解，就可熟練操作，無(wú)須太多技朮知識(shí)
測(cè)試程序產(chǎn)生器 (ATG)(可選) 
大多數(shù)CAD文件通過(guò)FABMASTER ATG 轉(zhuǎn)換到測(cè)試程序 ，數(shù)據(jù)不會(huì)丟失，省時(shí)， 效率高. 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器 (DTG)  很多其它品牌的ICT測(cè)試程序可通過(guò)DTG轉(zhuǎn)換到T623F格式,避免重新編程及數(shù)據(jù)丟失.

硬件特性: 
可靠性測(cè)試 
直接合成數(shù)碼波形產(chǎn)生器（DDS）及數(shù)碼濾波技朮（DFT）提供可編程的正弦波，具有穩(wěn)定、低失真，高訊噪比，從而提高了測(cè)試的可靠性 . 
度，使用16位D/A和A/D，具備64K分解度﹔獲得高測(cè)試 .

開(kāi)爾芬: 
開(kāi)爾芬8線測(cè)試用以測(cè)量低電阻及電感.
反插探測(cè) 
電解電容反插檢測(cè) 
透過(guò)測(cè)量外殼的電壓或漏電電流可判別電容是否反插 . 
晶體管三點(diǎn)測(cè)試 . 
二極管測(cè)試 
可區(qū)別功率、訊號(hào)和齊納二極管. 
易掃描
可檢測(cè)SMT IC，BGA 與總線上IC腳的開(kāi)路狀況
功能測(cè)試模塊
提供電源作功能測(cè)試，更可連接外置訊號(hào)源、儀器、示波哭作關(guān)鍵的履行測(cè)試。