|
日本日置C測試儀3506
對應1MHz測試, 低容量,高,高速測試
反復測量更高，適合生產線
校正維修功能，減低由環境的溫度變化影響
測量導線的過長引起的阻抗變化，阻抗補正功能
比測儀的設定值和測定值的同步顯示
2ms的高速測量；1kHz,1MHz 測量
根據BIN的測定區分容量
比測儀和觸發器同步輸出功能
輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。
按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
基本參數
測量參數 C（電容）,D（損耗系數tanδ）, Q (1/tanδ)
測量范圍 C:0.00000pF～15.0000mF
D: 0.00001～1.99999
Q:0.0～19999.9
基本確度 （代表值）C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B～Eは各系數
測量頻率 3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz
測量信號電平 500mV, 1V rms
輸出電阻 1Ω (在2.2mF以上的測量范圍: 1kHz;在 22nF以上的測量范圍: 100kHzs), 20Ω 上述測量范圍以外)
顯示 LED(6位顯示,滿量程由點數有效距離來決定)
測量時間 代表值: 2.0 ms （ FAST）
※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同
機能 BIN 分選測量功能, 觸發同步測量, 設定測量條件保存功能, 比較器測量功能,平均機能, Low-C抵抗機能, 震動機能,電流檢測功能,輸入電壓檢測機能,EXT I/O輸入/輸出, RS-232C接口, GP-IBイ接口
電源 AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 40VA
體積及重量 260×100×298mm, 4.8kg
附件 電源線×1, 電源備用保險絲×1 |
廣州宇測電子科技有限公司
免企業未認證證營業執照未上傳
掃一掃
進入手機店鋪
