產(chǎn)品品牌：

北無(wú)

產(chǎn)品型號(hào)：

ICT-33C

類(lèi)型

IC測(cè)試儀

本系統(tǒng)的主要特點(diǎn)可測(cè)1300種器件.可對(duì)器件好壞判別,型號(hào)判別,老化測(cè)試,器件代換查詢(xún),內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改,EPROM、EEPROM器件讀出寫(xiě)入.主要功能器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。器件型號(hào)判別：當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷其型號(hào)。器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。器件代換查詢(xún)：儀器可顯示有無(wú)邏輯功能一致、引腳排列一致的器件型號(hào)。內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改：ICT?/FONT>33C可從鍵盤(pán)對(duì)自己內(nèi)部RAM 中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。EPROM、EEPROM器件讀入：ICT?/FONT>33C可將64K以?xún)?nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入并保存。EPROM、EEPROM器件寫(xiě)入：ICT?/FONT>33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入到64K以?xún)?nèi)的EPROM、EEPROM器件中，并自動(dòng)校驗(yàn)。可 測(cè) 器 件（1300多種）CMOS40系列：103種。CMOSMC140系列：103種。CMOS45系列：60種。CMOSMC145系列：60種。光耦合器系列：133種。TTL74/54系列：714種。TTL75/55系列：82種。數(shù)碼管系列：0.5吋共陽(yáng)[001]；共陰[002]；0.3吋共陽(yáng)[003]；共陰[004]；0.7吋共陽(yáng)[005]；共陰[006]。常用RAM系列：EEPROM系列：EPROM系列：微機(jī)外圍電路系列： 8728 Z8OCTC(8O2)常用單片機(jī)系列： 8752其他系列：6MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506