AS-300反射率測(cè)試儀器是一款高反射率測(cè)試儀器，可測(cè)量整體反射率值，反射率光譜。操作方便快捷，適用與偏光片反射率測(cè)試，ITO薄膜反射率測(cè)試，TouchPannel反射率測(cè)試，導(dǎo)光板鍍膜膜厚測(cè)試，Low-e玻璃反射率測(cè)試，汽車(chē)車(chē)燈鍍膜膜厚測(cè)試 等。
儀器功能：
AS-300反射率測(cè)試儀器光譜測(cè)量 在波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行反射度能量的圖譜掃描,并可進(jìn)行各種數(shù)據(jù)處理如峰谷檢測(cè)、導(dǎo)數(shù)運(yùn)算、譜圖運(yùn)算等.·數(shù)據(jù)輸出 可進(jìn)行數(shù)據(jù)文件和參數(shù)文件的存取,測(cè)量結(jié)果以標(biāo)準(zhǔn)通用的數(shù)據(jù)文件格式輸出
AS-300反射率測(cè)試儀器技術(shù)參數(shù)
波長(zhǎng)：0.2nm
校正線性度：99.8%
測(cè)量誤差：1%以下
單次測(cè)量時(shí)間：小100ms
功耗：200W
電源：210~245V，60Hz
信號(hào)接口：USB2.0
操作系統(tǒng)：windows
波長(zhǎng)范圍：200-1100 nm
數(shù)據(jù)傳輸速率：每4ms 一個(gè)全掃描入存儲(chǔ)器(USB2.0 接口 )，18ms（USB1.1）
每300ms 一個(gè)全掃描入存儲(chǔ)器(串行口)
探測(cè)器：3648 像素的線型硅CCD 陣列 8um × 20um
光柵：14 種光柵，波長(zhǎng)從紫外到近紅外
積分時(shí)間：10um～65min
入射孔徑：寬5, 10, 25, 50, 100 或200um 的狹縫或光纖(無(wú)狹縫)
光纖連接：SMA905 接口，與0.22NA 的單股光纖相連
各類(lèi)濾波片：長(zhǎng)波通或帶通濾波片，安裝在光譜儀內(nèi)
電子控制：8 個(gè)數(shù)字GPIO 接口 電子快門(mén)控制（短10um）
焦距：42 mm（輸入）， 68 mm（輸出）
光學(xué)分辨率：0.3 nm FWHM（與光柵和狹縫寬度的選擇 有關(guān)）
動(dòng)態(tài)范圍：2×108（系統(tǒng)），1300:1（單個(gè)掃描信號(hào)）
AS-300反射率測(cè)試儀器主要特點(diǎn)：
·全新設(shè)計(jì)的優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng),高性能的全息閃耀光柵,確保了儀器的低雜散光.
·雙光束測(cè)光系統(tǒng),配合設(shè)計(jì)先進(jìn)的電路測(cè)控系統(tǒng).使儀器具有高度的穩(wěn)定性和
極低的噪聲. 
全自動(dòng)的控制系統(tǒng),先進(jìn)的設(shè)計(jì)理念,確保儀器具有高可靠性和高穩(wěn)定性.
·可拆卸結(jié)構(gòu)的樣品室設(shè)計(jì),易于更換不同的附件.以滿足不同的分析需求.
·寬敞型開(kāi)放式光源室設(shè)計(jì),使燈源更換更加方便.
·所有部件均選用進(jìn)口器件.保證了儀器性能的高可靠性.
·windows 環(huán)境下開(kāi)發(fā)的中英文操作軟件,具有多項(xiàng)技術(shù).提供了豐富的獨(dú)具特色的分析