KOSAKA LAB SEF 3500(表面粗糙度輪廓測定機)
Surfcorder SEF 3500表面粗糙度輪廓一體機，可進行高，高水平分析和多功能粗糙度輪廓測量。操作簡單，顯示一目了然。

特點：

*高表面粗糙度輪廓測定機，一機兩用，可進行表面粗糙度和輪廓形狀測量。

*配備有符合新ISO,DIN,ANSI,JIS標準的五十多種評價參數。

*一個寬范圍，高分辨率的檢測器，提供了在同類產品中更優越的高測量。

*通過簡單的性操作，可更換形狀、輪廓、測定裝置與表面粗糙度測量裝置，并不必對電纜重新布線。

*配有易于操作的操作桿，選定需要操作的軸，即可實現任何的移動。

*SEF 3500配有全息光柵尺，可提高寬/窄范圍測量和Z軸的分辨率，增加更加穩定的安全系數。

*獨特的真直度保證。

*驅動裝置可以任意傾斜45度，更方便不規則樣品的量測。

規格：

粗糙度測定

測定參數：多達五十多種，見產品目錄。

放大倍率：縱50-500000，橫1-5000。

測定范圍：縱600um,橫100mm。

記錄項目：測定值，測定條件，日期時間，輸入資料（各種文字及圖形資料）。

評價長度：0.25,0.8,2.5,8,25,80mm/任意值（0.2mm以上）

 /λc x1，x2，x3，x4，x5。

驅動速度：0.05，0.1，0.2，0.5，1，2mm/s，高速移動，10mm/s及手動。

切斷值（cut-off）:

粗度：λc 0.008,0.025，0.08，0.25，0.8，2.5，8 mm，R+W(JIS82無CUT-OFF)。

波紋度：fl 0.8,2.5,8,25mm,fh0.08,0.25,0.8,2.5mm。

濾波方式：高斯（Gauss），2CR，特殊高斯。

資料點/分解能：32000點/16位元。

自動水平：小二乘法，二點法。

輔助功能：自由排列組合記錄，記錄圖刻劃，平均處理，統計處理，中途終止，測定再演算，檢出器登記，注解記錄，自動感度校正，mm/inch單位切換，自動測定，部分處理。

檢出器上下動作：檢出器上下范圍250mm。

    自動停止±0.2um/100mm。（靴片使用時）

X軸真直度：0.2um/100mm。

檢出器：觸針R2um鉆石頭，測定力0.7mN。

輪廓測定

放大倍率：縱橫1-200倍。

測定范圍：縱50mm，橫100mm。

驅動速度：0.02，0.05,0.1,0.2,0.5,1,2mm/s。高速移動2,10mm/s及手動。

檢出器上下動作范圍：200mm。

真直度：1um/100mm。

檢出器：R25um,10-30mN,追隨角度：爬升77度，下坡87度。

裝置尺寸：測定部：W1,500 x D770mm /約80kg

 解析部約30kg