介電常數介質損耗因數測試儀數據采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT)，實現了數據采集、數據分析和計算的微處理化，tanδ 測量結果的獲得無須繁瑣的人工處理，因而了數據的度和測量的同一性，是人工讀值和人工計算擬的。

附表一介質損耗因數測試儀系統主要性能參數一覽表

BH916測試裝置                            GDAT高頻Q表

平板電容片 Φ50mm                   可選頻率范圍20KHz-60MHz、

間距可調范圍≥15mm                    頻率指示誤差3×10-5±1個字

夾具插頭間距25mm±0.01mm               主電容調節范圍30-500

測微桿分辨率0.001mm                     主調電容誤差<1%或1pF

夾具損耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)        Q測試范圍2～1023

介電常數介質損耗因數測試儀標準配置：

Q表 一只 

試驗電  一只 （c類）

電感      一套（9只）

電源線    一條

說明書    一份

合格證    一份

保修卡    一份

介電常數介質損耗測試儀主要技術指標：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測量（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作頻率范圍：50kHz～50MHz    四位數顯，壓控振蕩器

Q值測量范圍：1～1000三位數顯，±1Q分辨率

可調電容范圍：40～500 pF  ΔC±3pF

電容測量誤差：±1%±1pF

 介電常數介質損耗測試儀特點： 

◎ 本公司的自動Q值保持技術，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體緣材料在10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

◎ 調諧回路殘余電感值8nH，100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制。

◎ DPLL合成發生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。信號   源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

介電常數介質損耗測試儀裝置：

2.3.1 平板電容器片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率：0～8mm，±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圓筒電容器可調范圍：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4