XEye 擁有射線護的X射線探測器
高圖像質量是的工業產品的質量,即使是小的缺陷區域也是檢測的關鍵。
XEye X射線探測器由德國Fraunhofer(弗勞恩霍夫)IIS實驗室開發研制，2006年8月連續7天8小時在225KV X射線輻照下連續工作運轉,圖像質量依然穩定。XEye結合了高解析度和大成像區域 - 模塊化結構甚至允許成像區域任意增加。
XEye系列探測器已經成功引入許多應用。是工業應用全天候運行得益于XEye's穩定的圖像質量和耐用性,應用在：
- 檢查輪胎
- 在線計算機斷層掃描
- 鑄件檢驗
- PCB檢測
- 高分辨率的計算機斷層掃描
探測器規格
像素尺寸為:
成像區域:
幀速率:4.5 - 50 FPS
曝光時間:1毫秒 - 2秒
觸發外部觸發，軟件觸發，自由運行
動態范圍（約）:
像素尺寸為400μm10.000： fps
7.000：1@9 FPS
5.000：1@16 fps
3.500：1@ 25 fps
像素尺寸為200μm5.000： fps
3.500：1@9 FPS
2.500：1@16 fps
像素大小為100μm2.500： fps
1.800：1@9 FPS
圖像滯后<0.1％
閃爍體PI200 DRZ高/加/標準 CAWO OG2/ OG8/ OG16
可以定制
環境溫度:
電壓范圍:可達225kv,
電源:輸入230VAC輸出為24 VDC電源
