產(chǎn)品概述：
1.ED40型渦流測厚儀是ED30型測厚儀的改進型，儀器性能顯著。
2. ED40型渦流測厚儀適于測量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁件表面的陽氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
3. ED40型渦流測厚儀適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進行快速、的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。
4. ED40型渦流測厚儀合標準GB/T4957-203 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
5.  天星ED40型渦流測厚儀自1993年開始生產(chǎn)以來，伴隨著我國鋁加工行業(yè)的成長，其自身也在不斷改進和，目前，已生產(chǎn)了ED20型、ED30型和ED40型三代產(chǎn)品， ED40型渦流測厚儀是新一代產(chǎn)品，其產(chǎn)品質(zhì)量和測試國外儀器水平，其耐用性突出，過國內(nèi)外儀器。天星測厚儀以良好的質(zhì)量，及時、優(yōu)質(zhì)、低費用的售后服務得到用戶的廣泛贊譽和，天星測厚儀在鋁型材行業(yè)的過90%，成為該行業(yè)的產(chǎn)品。
儀器特點：
      ED40型渦流測厚儀與ED30型相比，具有如下特點：
＊量程寬   ED40型渦流測厚儀量程0～50μm。
＊高   測量2%。
＊分辨率高   分辨率0.1μm。
＊校正簡便   只校正“0”和“50μm”兩點，即可在全量程范圍內(nèi)設計。
＊基體導電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量誤差不大于1～2μm。
＊性   采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器性。
＊穩(wěn)定性   采用的溫度補償技術，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
＊探頭芯壽命長   采用度磁芯材料，微調(diào)了探頭設計，探頭芯壽命可大大延長。
＊探頭可互換   外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。
技術參數(shù)：測量范圍：     0～50μm
測量：     0～50μm：±1μm；
                   50～50μm：±2%
分 辨 率：      0～50μm：0.1μm；
                   50～50μm：1μm；
                   0～50μm：1μm（可選）
使用溫度：     5～45℃
外形尺寸：     150m×80m×30m
重      量：     280g
標準配置
主機            
探頭            
基體（6063鋁合金）
校正箔片   一套4片（附檢測）
儀器箱  可選附件
備用探頭
基體
校正箔片（附檢測）