應用領域
RoHS指令篩選檢測
技術特點
*配置新技術“樣品免拆分”檢測模式：采用新技術的光路結構，小照射光斑直徑可1mm，輔以的光斑定位系統，從而可以實現對復雜樣品進行免拆分直接測量的要求
*配置合中國標準的樣品混測功能：方形4mmX4mm光斑設計，配合1mm光斑配合使用，能夠對電路板等復雜樣品實現“免拆分”區域掃描測量功能；從而顯著節省測量時間，大幅度檢測效率
*配置On-Line實時在線技術支持系統（選配）：實時解決用戶在使用過程中的疑難技術問題，同時對用戶操作人員進行培訓
*配置十二組復合濾光片：NaU1000型配置了12組復合型濾光片，是業界配置全、數目多的配置之一；12組濾光片的配置，大的了XRF分析儀針對各種復雜樣品檢測的適應性
*內置標準工作曲線：儀器內置了滿足EU-RoHS以及CHINA-RoHS產品要求的基礎材料的工作曲線，方便用戶直接使用；并與指定的檢測實驗室保持一致
*具備開放的工作曲線技術平臺：基于開放的工作曲線技術平臺，電子生產企業可以建立針對自己工廠特定物料的工作曲線，XRF分析儀檢測結果的性和準確性
*分析軟件操作系統分級管理：儀器系統軟件配置了操作員、工程師兩級操作功能菜單，便于工廠有序管理；操作員菜單簡單直觀，避免儀器重要參數的誤修改；工程師菜單大，儀器的各種參數設置權限開放給用戶
*采用經典的迷宮式輻射護結構：采用了經典的迷宮式輻射護結構，在保持儀器外形美觀操作方便的同時，徹底散射X射線的泄露
*可選配技術“影響權系數法”多層鍍層測厚功能：納優科技的“影響權系數法”多層鍍層測厚技術，顯著鍍層厚度測量的準確度；可測量鍍層數量為9層；徹底解決了常規XRF測厚方法所不能解決的塑料基體鍍層厚度測量的技術難題
*外觀設計實用美觀：合人體工程學的儀器外形設計，操作人員測量過程方便舒適
分析方法及系統軟件
分析方法配置：
基于蒙特卡洛計算模型的基本參數法
經驗系數法
理論α系數法
軟件功能描述：
RoHS指令、無鹵指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
各種金屬材料、無機非金屬材料（不包括聚合物材料）的材質分析（S～U元素）
聚合物等材料中硫（S）～鈾（U）元素的含量分析
分析的自主定制與輸出打印
分析結果的保存、查詢及統計
On-Line實時在線技術支持與技術服務功能（選配）
多層鍍層厚度測量功能（選配）
主要配置
美國Si-PIN電制冷半導體探測器
側窗鉬（Mo）靶管
標配12組復合濾光片
配置了Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準直器
具備合中國標準的樣品混側功能
內置標準工作曲線
具備開放工作曲線技術平臺
分析軟件操作系統分級管理。
產品參數
名稱：X熒光光譜儀
型號：NaU1000
輸入電壓：220±5V/50Hz
消耗功率：≤500W
環境溫度：15-30℃
環境濕度：≤80%（不結露）
主機外形（mm）：長＊寬＊高＝820*500*425
樣品倉（mm）：長＊寬＊高＝430*380*105
主機重量：約55公斤
技術指標
元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素
測量時間：
對聚合物材料，典型測量時間為300秒
對銅基體材料，典型測量時間為600秒
檢出限指標（LOD）：
對聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg
對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg
RoHS指令篩選檢測
技術特點
*配置新技術“樣品免拆分”檢測模式：采用新技術的光路結構，小照射光斑直徑可1mm，輔以的光斑定位系統，從而可以實現對復雜樣品進行免拆分直接測量的要求
*配置合中國標準的樣品混測功能：方形4mmX4mm光斑設計，配合1mm光斑配合使用，能夠對電路板等復雜樣品實現“免拆分”區域掃描測量功能；從而顯著節省測量時間，大幅度檢測效率
*配置On-Line實時在線技術支持系統（選配）：實時解決用戶在使用過程中的疑難技術問題，同時對用戶操作人員進行培訓
*配置十二組復合濾光片：NaU1000型配置了12組復合型濾光片，是業界配置全、數目多的配置之一；12組濾光片的配置，大的了XRF分析儀針對各種復雜樣品檢測的適應性
*內置標準工作曲線：儀器內置了滿足EU-RoHS以及CHINA-RoHS產品要求的基礎材料的工作曲線，方便用戶直接使用；并與指定的檢測實驗室保持一致
*具備開放的工作曲線技術平臺：基于開放的工作曲線技術平臺，電子生產企業可以建立針對自己工廠特定物料的工作曲線，XRF分析儀檢測結果的性和準確性
*分析軟件操作系統分級管理：儀器系統軟件配置了操作員、工程師兩級操作功能菜單，便于工廠有序管理；操作員菜單簡單直觀，避免儀器重要參數的誤修改；工程師菜單大，儀器的各種參數設置權限開放給用戶
*采用經典的迷宮式輻射護結構：采用了經典的迷宮式輻射護結構，在保持儀器外形美觀操作方便的同時，徹底散射X射線的泄露
*可選配技術“影響權系數法”多層鍍層測厚功能：納優科技的“影響權系數法”多層鍍層測厚技術，顯著鍍層厚度測量的準確度；可測量鍍層數量為9層；徹底解決了常規XRF測厚方法所不能解決的塑料基體鍍層厚度測量的技術難題
*外觀設計實用美觀：合人體工程學的儀器外形設計，操作人員測量過程方便舒適
分析方法及系統軟件
分析方法配置：
基于蒙特卡洛計算模型的基本參數法
經驗系數法
理論α系數法
軟件功能描述：
RoHS指令、無鹵指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
各種金屬材料、無機非金屬材料（不包括聚合物材料）的材質分析（S～U元素）
聚合物等材料中硫（S）～鈾（U）元素的含量分析
分析的自主定制與輸出打印
分析結果的保存、查詢及統計
On-Line實時在線技術支持與技術服務功能（選配）
多層鍍層厚度測量功能（選配）
主要配置
美國Si-PIN電制冷半導體探測器
側窗鉬（Mo）靶管
標配12組復合濾光片
配置了Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準直器
具備合中國標準的樣品混側功能
內置標準工作曲線
具備開放工作曲線技術平臺
分析軟件操作系統分級管理。
產品參數
名稱：X熒光光譜儀
型號：NaU1000
輸入電壓：220±5V/50Hz
消耗功率：≤500W
環境溫度：15-30℃
環境濕度：≤80%（不結露）
主機外形（mm）：長＊寬＊高＝820*500*425
樣品倉（mm）：長＊寬＊高＝430*380*105
主機重量：約55公斤
技術指標
元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素
測量時間：
對聚合物材料，典型測量時間為300秒
對銅基體材料，典型測量時間為600秒
檢出限指標（LOD）：
對聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg
對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg
