50經(jīng)濟型涂層測厚儀
50經(jīng)濟型涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法。通過選擇相應的測頭，既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；具有測頭點校準、一點校準、兩點校準功能，并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正
〖技術參數(shù)〗
50經(jīng)濟型涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法。通過選擇相應的測頭，既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；具有測頭點校準、一點校準、兩點校準功能，并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正
〖技術參數(shù)〗
其他說明
| 探頭選擇 | F1(磁性)或N1(非磁性) |
| 測量范圍 | 0~1250μ m |
| &plun; (3%+1μ m) | |
| 分辨率 | 0.1μ m |
| 存儲容量 | 20組(每組50個測量值) |
| 單位制 | 公制和英制 |
| 通訊接口 | U1.1 |
| 尺寸 | 125× 67× 31 mm |
| 重量 | 340g |
