XC-100L型便攜式測量顯微鏡
一、用途：
XC-100L是一種袖珍型便攜式的顯微測量儀器，對粉末顆粒，表面凹坑、化痕、斷層、涂面厚度等在線質控檢測之用。廣泛應用于輕工、機械、電子、印刷及表面疵病質檢。
二、規格：
1.目鏡：
目鏡放大率：10倍
目鏡測微尺：0-10毫米小分度值：0.1毫米
2.物鏡：
物鏡放大率：10倍
測量范圍：1毫米
測量度：±0.01毫米
3.系統放大率：100倍
三：成套性：
1.測微目鏡10倍：1只
2.物鏡10倍：1只
3.調焦鏡架組：1只
4.電池筒：1只
總放大率＝物鏡倍率X大物鏡倍率X目鏡倍率。
一、用途：
XC-100L是一種袖珍型便攜式的顯微測量儀器，對粉末顆粒，表面凹坑、化痕、斷層、涂面厚度等在線質控檢測之用。廣泛應用于輕工、機械、電子、印刷及表面疵病質檢。
二、規格：
1.目鏡：
目鏡放大率：10倍
目鏡測微尺：0-10毫米小分度值：0.1毫米
2.物鏡：
物鏡放大率：10倍
測量范圍：1毫米
測量度：±0.01毫米
3.系統放大率：100倍
三：成套性：
1.測微目鏡10倍：1只
2.物鏡10倍：1只
3.調焦鏡架組：1只
4.電池筒：1只
總放大率＝物鏡倍率X大物鏡倍率X目鏡倍率。
