CMI900膜厚測試儀
CMI900是一款性價比高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。
詳細信息
X射線熒光光譜儀
快速的分析：正比計數探測器和50瓦微焦X射線管，大大了靈敏度
簡單的元素區分：二次光束過濾器可以分離重疊元素
性能優化，測量元素范圍廣：可預設參數
CMI900提供800多種預設應用參數/方法
杰出的長期穩定性：
自動熱補償測量儀器溫度，糾正變化，提供穩定的結果
簡單快速的光譜校準，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供要的糾正
堅固耐用的設計
可以在實驗室或生產線上操作
堅固的工業設計
經行業驗證的技術，在銷售量過3000臺
調整生產過程，從而生產力
元件性
測量焊料合金成份和鍍層厚度
優化質量控制，從而產品生命周期
分析導電性鍍層金和鈀的厚度
測量電腦硬盤上的NiP層厚度
電鍍處理的成本小化，產量化
快速簡單的分析
同時進行單層或多層鍍層厚度測量及成份分析
多可分析4層（不包括基層）
鍍液成份分析
珠寶及其他合金的快速分析
貴金屬合金分析
黃金純度分析
材料鑒定
CMI900是一款性價比高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。
詳細信息
X射線熒光光譜儀
快速的分析：正比計數探測器和50瓦微焦X射線管，大大了靈敏度
簡單的元素區分：二次光束過濾器可以分離重疊元素
性能優化，測量元素范圍廣：可預設參數
CMI900提供800多種預設應用參數/方法
杰出的長期穩定性：
自動熱補償測量儀器溫度，糾正變化，提供穩定的結果
簡單快速的光譜校準，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供要的糾正
堅固耐用的設計
可以在實驗室或生產線上操作
堅固的工業設計
經行業驗證的技術，在銷售量過3000臺
調整生產過程，從而生產力
元件性
測量焊料合金成份和鍍層厚度
優化質量控制，從而產品生命周期
分析導電性鍍層金和鈀的厚度
測量電腦硬盤上的NiP層厚度
電鍍處理的成本小化，產量化
快速簡單的分析
同時進行單層或多層鍍層厚度測量及成份分析
多可分析4層（不包括基層）
鍍液成份分析
珠寶及其他合金的快速分析
貴金屬合金分析
黃金純度分析
材料鑒定
