- 品牌/商標:臺灣Chroma
- 企業(yè)類型:貿(mào)易商
- 新舊程度:全新
- 原產(chǎn)地:臺灣
硬體設備
半自動 LED wafer/chip 點測設備
漏電流測試模組
電源量測單元
光學測試模組
ESD 測試模組 (選配)
Chroma 58173 是一組全新獨特的量測 LED 全光 通量之自動化測試系統(tǒng)。在LED的裸晶與晶粒測 試生產(chǎn)線中,常見使用部份光通量來取代全光通 量之量測方式 (見圖1)。然而,傳統(tǒng)的方式存在 一些缺點,例如:準確度較低、訊噪比較低、測 試時間較長等,以致于導入LED 的裸晶與晶粒生 產(chǎn)線時會發(fā)生問題。
致茂研發(fā)出一種全新、高速且高度之 LED 全光通量之量測方式(見圖2)。 這種創(chuàng)新的量測 方式不僅比傳統(tǒng)方式收集更多的 LED 部分光通 量,也明顯的改善提升了量測度。
在光學量測方面,主波長、峰波長、色溫等均可 透過致茂獨特的光學設計與元件取得且穩(wěn)定 快速之數(shù)據(jù);在機構方面,58173 搭載一個6吋 的晶片載盤與校正基座,提供使用者一個完整 的校正與測試平臺;在電性測試方面,58173 則 具備完整之電源量測單元,無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性,均可于一 次滿足使用者的測試需求。
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Model | Description | 詢價 |
58173 | LED 全光通量自動測試系統(tǒng) |

















