集成電路高溫動態老化系統
　　產品詳情
　　合標準：G548（等同MIL-STD-883）、G　597（等同MIL-M-38510）
　　適用范圍：
　　適用于對各種數字、模擬、數模混合集成電路和SOC電路、微處理器、存儲器等微電子電路進行高溫動態老化試驗。
　　工作特性：
　　●一板一區工作方式，多可同時進行16種規格、批次的器件進行篩選試驗，適應多品種、小批量。
　　●溫報警裝置，溫度條件施加。
　　●可檢測各組電源工作情況及試驗箱溫度并描繪其與時間相關的曲線。
　　●軟件全編輯信號產生方式，可滿足包括存儲器在內的多種集成電路器件的動態老化要求。
　　●集成的用戶軟件包基于WINDOWS平臺開發，功能并有良好的可擴展性。
　　●主從式RS485全雙工串行通訊接口，遠距離通訊能力強，數輸。
　　●試驗容量和系統分區可根據實際情況另行配置。
　　●試驗箱可選擇兩個小型試驗箱，每個試驗箱裝8塊老化板，可同時進行兩個溫度條件的試驗。
　　●可提供調式臺，具備的DUT試運行接口和維修接口，方便試驗前或試驗中對DUT和老化板進行試驗狀態檢查。
　　電子電路進行高溫動態老化試驗。
　　技術性能：
　　型號  ELEA-V  ELEH-V
　　系統分區  16區（標準）
　　試驗容量  208×16（以DIP14計）  /
　　試驗溫度  150℃
　　數字信號路數  每板64路  每板8路
　　數字信號  每路可編輯信號的數據、地址、控制、三態特性；信號頻率：2MHz；小編程分辨率100ns，小編程步長100ns；編程深度256k；信號幅度程控范圍：2.0V～18.0V；尋址深度：64G；數字信號可采用直接輸入、字輸入、程序輸入三種方法編程；
　　模擬信號  多路多種類模擬信號發生單元及驅動電路，頻率可達1MHz；驅動電流：1A；信號幅度Vpp20V；直流偏移量：0～1/2Vpp；
　　試驗狀態監測  64路信號示波監測接口；寬范圍數字、模擬信號頻率自動測試、記錄；二級電源電壓監測；
　　二級電源電流、信號峰值監測（可選）
　　通訊速率  500K
　　二級電源  可程控VCC、VMUX、VEE；
　　輸出能力：2V～18V/10A；
　　具備灌電流能力；  2組正電源：VCC1（＋2V~＋36V）、VCC2（＋2V~＋36V）；
　　2組負電源：VEE1（-2V~-36V）、VEE2（-2V~-36V）；電流為10A；
　　具有過流、過壓及過熱保護功能；
　　電源要求  輸入：AC380V，50Hz，三相（220V單相可選）；
　　  整機功率：8kW以下  整機功率：12kW以下
　　重量  約500kg
　　外形尺寸（寬×高×深）  1313mm×1950mm×1350mm