粗糙度儀
■ 低測力，應用于太陽能硅片等粗糙度的測量，硅片表面線痕的測試。
■ 大型 LCD 屏幕窗口,易于清晰讀取。
■ 使用觸控式面板（具污性）,操作簡易。
■ 可將數據儲存于記憶卡（選購品）。
■ 任意長度設定機能。
■ 按 PRINT 鍵即可藉由內藏式打印機打印出量測之結果（可選擇不同之打印方式）。
■ 內藏 充電電池,本體攜帶方便也可收置檢出器。
■ 擁有豐富的參數：自動校正機能、統計處理、合否判定機能、客戶自行編輯設計機能判定機能
粗糙度儀 型號 SJ-210
平移范圍 17.5mm （ 5" ）
測量范圍 350μm （ ±150μm ） [12000μinch （ ±6000μinch ） ]
驅動 / 檢測元件 探測儀 :178-390/178-395
測頭 : 金剛石
測量力 :4mN/0.75mN
探測方式 : 微感應
評定輪廓 P , R
估計參數 Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Sm,S,Pc,P3z,mr
數字過濾 2CR-75%,2CR-75% PC,Gaussian-50%
截至 λC 0.25,0.8,2.5mm
波長 λS 2.5,8μm
取樣長度（ L ） 0.25,0.8,2.5mm
顯示 ：彩色 LCD
打印機：外置
數據輸出 通過 RS232C 接口 /SPC 輸出
電源通過 AC 適配器 / 電池（可充電）
尺寸 62×156.5×52mm
重量 0.48kg
