E4991A　射頻阻／材料分析
　　基本
　　基本＋／-0.8％
　　掃描參數
　　頻率：1　MHz　至　3　GHz
　　振蕩器電平：　1　dBm／0.5　Vrms／10　mArms
　　DC　偏置電平（選件　E4991A-001）：＋／-40V　或＋／-50　mA
　　更多特性
　　Windows　風格的用戶界面
　　內置　VBA　編程功能
　　通過　LAN　接口進行數輸
　　多功能測量選件
　　介電／磁性材料測量（選件　E4991A-002）
　　的晶圓測量（選件　E4991A-010）
　　溫度特性測量（選件　E4991A-007）
　　
　　E4991A　射頻阻／材料分析提供限阻測量性能和大的內置分析功能。它將為元器件和電路設計人員測量　3　GHz　以內的元器件提供功能，幫助他們進行研發工作。與反射測量技術不同，E4991A　使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術，可在廣泛的阻范圍內提供更的阻測量結果。基本阻是＋／-0.8％。高　Q　有利于進行低功耗元器件分析。內置合成器具有　1　MHz到　3　GHz　的掃描范圍和　1　MHz的分辨率。
　　材料評估
　　E4991A　提供完整的介電／磁性材料測量解決方案，涵蓋　1　MHz　至　1　GHz的寬頻率范圍。
　　晶圓測量
　　借助E4991A-010探針臺連接套件，您可輕松地地將　Agilent　E4991A　連接到射頻探頭系統（由　Cascade　Microtech　提供）上進行晶圓測量。
　　溫度特性評估
　　溫度特性測試套件　E4991A-007是一款為元器件和材料進行溫度特性測量的新型解決方案。該選件可在-55°C　至＋150°C　廣泛的溫度范圍內提供高的溫度特性分析功能，以及強大的溫度漂移補償功能?！?