YB-6500高分立器件測試系統能對市場上現有的分立器件都可測試。
　　
　　可測試器件種類
　　YB6500系統測試功能更加強大，可測試類二十七分類大、中、小功率的半導體分立器件：
　　1.二管：Diode
　　2.穩壓（齊納）二管：Zener
　　3.晶體管：Transistor（NPN型／PNP型）
　　4.可控硅整流器（普通晶閘管）：SCR
　　5.雙向可控硅（雙向晶閘管）：TRIAC
　　6.MOS場效應管：Power　MOSFET（N-溝／P-溝）
　　7.結型場效應管：J-FET（N-溝／P-溝，耗盡型／增強型）
　　8.三端穩壓器：REGULATOR（正電壓／負電壓，固定／可變）
　　9.緣柵雙大功率晶體管：IGBT（NPN型／PNP型）
　　10.光電耦合器：OPTO-COUPLER（NPN型／PNP型）
　　11.光電邏輯器件：OPTO-LOGIC
　　12.光電開關管：OPTO-SWITCH
　　13.達林頓陣列
　　14.固態過壓保護器：SSOVP
　　15.硅觸發開關：STS
　　16.繼電器：RELAY（A、B、C型）
　　17.金屬氧化物壓變電阻：MOV
　　18.壓變電阻：VARISTOR
　　19.雙向觸發二管：DIAC
　　
　　1.上述所列類別包括各大、中、小功率半導體分立器件及其組成的陣列、組合、表貼器件。
　　2.測試方法合GB/T　15651.2-2003標準、GB/T　15651.3-2003標準、G　128A-1997半導體分立器件試驗標準。
　　3.提供上述各類器件測試所用的不同封裝形式的測試夾具和測試適配器。
　　4.可以定做各種陣列、組合封裝、表貼器件的測試夾具。
　　5.幫助用戶開發各種器件的測試程序。