詢價
- 品牌/商標(biāo)：九州空間
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：北京
- 環(huán)境級x γ輻射測量儀：探測器：Φ50 × 40 mm，NaI（Tl）晶體
- 環(huán)境級x γ輻射測試儀：輻射類型：X，γ
- 環(huán)境級x γ輻射速測儀：探測器：Φ50 × 40 mm，NaI（Tl）晶體
JZ-FJ1200環(huán)境級x γ輻射測量儀
商品規(guī)格：JZ-FJ1200商品簡述：
產(chǎn)品簡介】 JZ-FJ1200環(huán)境級X、γ輻射測量儀主要用于環(huán)境輻射本底以及低水平X、γ輻射的準(zhǔn)確快速測量,儀器采用NaI晶體作為探測器，具有靈敏度高的特性。儀器攜帶方便，易于操作。本儀表可用于環(huán)保部門檢測環(huán)境本底情況，醫(yī)院人員監(jiān)測射線醫(yī)療設(shè)備附近本底，無損檢驗(即射線探傷)裝置是否有輻射泄漏，核電站附近居民區(qū)環(huán)境本底測量，農(nóng)業(yè)部門的輻照育種設(shè)備是否有輻射泄漏。
適用人群和機構(gòu)有：環(huán)境監(jiān)測機構(gòu)，醫(yī)院輻射醫(yī)療設(shè)備操作管理人員，射線探傷裝置的操作和管理人員，經(jīng)常需要使用放射源的劑量刻度站和研究核輻射和輻
射儀表的科研人員等。
【技術(shù)指標(biāo)】
◆輻射類型：X，γ
◆探測器：Φ50 × 40 mm，NaI（Tl）晶體
◆測量范圍：0.01 ~ 200μSv/h
◆測量：± 10%（100 μSv/h，137Cs）
◆能量響應(yīng)： 40 keV ~ 1.3 MeV
◆響應(yīng)時間：< 3 s
◆工作時間：4節(jié)AA1.5V電池
◆機械尺寸：主機：寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm
◆探頭：Φ 60 × 254 mm（不含手柄）
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