詢價(jià)
- 分析方法：能量色散X熒光分析方法
- 型號(hào)：EDX3600K
- X射線源：50KV、1mA
- 樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
- 測(cè)量元素范圍：原子序數(shù)為9～92[氟（F）到鈾（U）
- 檢測(cè)元素：同時(shí)分析元素達(dá)三十多種，可根據(jù)客戶需要增加元素
- 含量范圍：ppm～99.99%
- 檢測(cè)時(shí)間：10秒以上
天瑞XRF儀器生產(chǎn)廠家，分析儀器上市公司，公司是生產(chǎn)高性能X熒光光譜儀(XRF儀器)的公司。2011年推出的高性能、臺(tái)式XRF儀器EDX3600H,融匯的合金分析技術(shù)，配備合金測(cè)試效果的智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測(cè)試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測(cè)效果。
EDX3600HXRF分析光譜儀是天瑞儀器公司為合金測(cè)試專門開(kāi)發(fā)的儀器類型。
具有測(cè)試高、測(cè)試速度快、測(cè)試簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。
同時(shí)具有合金測(cè)試、合號(hào)分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測(cè)樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。
性能特點(diǎn)
XRF分析儀器高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平
針對(duì)合金的測(cè)試而開(kāi)發(fā)的專用配件
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性；
高信噪比的電子線路單元
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣
XRF分析儀器多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制；
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然
標(biāo)準(zhǔn)配置
合金測(cè)試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進(jìn)口SDD探測(cè)器
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
XRF分析儀器高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
XRF分析儀器
同時(shí)分析元素：性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間：60秒-200秒
能量分辨率為：（140±5）eV
管壓：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA
應(yīng)用領(lǐng)域
檢測(cè)以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產(chǎn)品，同時(shí)可以進(jìn)行ROHS檢測(cè)、鍍層測(cè)厚儀，全元素分析等。
