- 品牌/商標:物科光學
- 企業類型:制造商
- 新舊程度:全新
- 產品型號:WK-MZ-200
- 原產地:四川綿陽
馬赫-曾德干涉儀屬于一種等光程比較干涉。通過比較被測物和參考物的相位(表現為條紋的變化),從而實現被測物的物理量的測量。馬赫-曾德干涉儀通常用于測量透明介質折射率的微小變化,可用于氣體、液體、透明固體、沖擊波及熱傳導等方面的研究。
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馬赫-曾德干涉儀屬于一種等光程比較干涉。通過比較被測物和參考物的相位(表現為條紋的變化),從而實現被測物的物理量的測量。馬赫-曾德干涉儀通常用于測量透明介質折射率的微小變化,可用于氣體、液體、透明固體、沖擊波及熱傳導等方面的研究。
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