JIMA RT -01分辨率測試卡,于三維系統分辨率測試

型號：RT -01   類別： 質控儀器   品牌：日本JIMA pdf資料: JIMA RT -01分辨率測試卡,于三維系統分辨率測試.pdf 

JIMA RT -01分辨率測試卡,于三維系統分辨率測試詳細介紹： JIMA（日本檢測儀器制造商協會），致力于關注各種檢測儀器，其中包括檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。

JIMA RT -01分辨率測試卡（于三維系統分辨率測試）

測試卡封裝在一個護盒中

圖案布局：T型

線/空間尺寸：5種規格圖案,

                      3μm,4μm,5μm,6μm,7μm





JIMA RT RC-04分辨率測試卡

測試卡封裝在一個護盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm

芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm

圖案布局：T型

線/空間尺寸：32種規格圖案,

0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,

0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm，7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,






 JIMA RT RC-02分辨率測試卡

測試卡封裝在一個護盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm

芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm

圖案布局：L型

線/空間尺寸： 16種規格圖案,

0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,

2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm






JIMA RT RC-05分辨率測試卡

測試卡封裝在一個護盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm

芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm

圖案布局：T型 （3-10μm）

I 型 （15-50μm）

線/空間尺寸：16種規格圖案,

3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）

15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)


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