詢價
- 采樣精度：\t12BIT
- 信號源范圍DDS數字合成信號： 100KHZ-160MHz
- 高精度的AD采樣，：保證了Q值的穩定性，以及低介質損耗材料測試時候的穩定性
- 信號源頻率覆蓋比：\t16000
- Q測量范圍：\t1-1000自動/手動量程
- 信號源頻率精度 6位數：\t3×10-5 ±1個字
介電常數及介質損耗測試儀M129407-STD-C，可直接顯示介電常數（ε）和介質損耗（tanδ）.檢測固體材料。
M129407-STD-C介電常數測試儀
M129407-STD-C高頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統由測試裝置（夾具）、高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入STD-C的軟件模塊)、及電感器組成。依據國標GB/T 5594.4-2015 電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 第4部分：介電常數和介質損耗角正切值測試方法、GB/T 1693-2007 硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法.GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。使用STD-C數字Q表具有自動計算介電常數（ε）和介質損耗（tanδ）。
M129407-STD-C介電常數/介質損耗測試系統系統組成：
主機：高頻Q表
功能名稱： STD-C
信號源范圍DDS數字合成信號 100KHZ-160MHz
信號源頻率覆蓋比 16000:1
信號源頻率精度 6位數 3×10-5 ±1個字
采樣精度 12BIT
高精度的AD采樣，保證了Q值的穩定性，以及低介質損耗材料測試時候的穩定性
Q測量范圍 1-1000自動/手動量程
Q分辨率 4位數,分辨率0.1
Q測量工作 <5%
電感測量范圍 4位數,分辨率0.1nH 1nH-140mH分辨率0.1nH
電感測量 <3%
調諧電容 主電容17-240pF
(一體鍍銀成型,精度高)
電容自動搜索 是(帶步進馬達)
電容直接測量范圍 1pF～25nF
調諧電容
分辨率 ±1 pF或<1%
0.1pF
諧振點搜索 自動掃描
Q合格預置范圍 5-1000聲光提示
Q量程切換 自動/手動
LCD顯示參數 F，L，C，Q，Lt，Ct, tn, Σr
自身殘余電感和測試引線電感的
自動扣除功能() 有
大電容值直接測量顯示功能() 測量值可達25nF
介質損耗系數 精度 萬分之一
介電常數 精度 千分之一
材料測試厚度 0.1mm-10mm
介電常數 LCD直接顯示
介質損耗系數 LCD直接顯示
介電常數測試頻率范圍 100KHz-100MHz
介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置：
樣品尺寸：固體：材料測量直徑 Φ38mm ；厚度可調 <15mm ；
(極片可以定制)
選配液體杯，可做液體材料的檢測。
電感組:
電感No 電感量 準度% Q值≥ 分布電容約略值 諧振頻率范圍 MHz 適合介電常數測試頻率
1 0.1μH ±0.05μH 200 5pF 31~103 50MHz
2 0.5μH ±0.05μH 200 5pF 14.8~46.6 15MHz
3 2.5μH ±5% 200 5pF 6.8~21.4 10MHz
4 10μH ±5% 200 6pF 3.4~10.55 5MHz
5 50μH ±5% 200 6pF 1.5~4.55 1.5MHz
6 100μH ±5% 200 6pF 1.06~3.20 1MHz
7 1mH ±5% 150 8pF 0.34~1.02 0.5MHz
8 5mH ±5% 130 8pF 0.148~0.39 0.25MHz
9 10mH ±5% 90 8pF 0.107~0.32 0.1MHz
10 14nH ±5% 100 5pF 100MHz 100MHz
配置：含STD-C測試主機1臺，樣品夾具1套，電感1組（9個），如需選配液體杯，費用另計。介電常數及介質損耗測試儀M129407-STD-C介電常數及介質損耗測試儀M129407-STD-C介電常數及介質損耗測試儀M129407-STD-C介電常數及介質損耗測試儀M129407-STD-C
