詢價
- 是否安全：安全
- 是否全新：全新
- 是否封裝：紙箱
- 是否質(zhì)保：質(zhì)保
- 類型：晶閘管綜合測試儀
晶閘管綜合測試儀
對小功率可控硅研制開發(fā)的測試儀，可測試各種小型塑封管，型號包括 BTA16、MCR100-6、T410等。
該測試儀是符合國標GB4023-83《半導體器件整流二極管的測試方法》和GB-4024-83《半導體反向阻斷三極晶閘管的測試方法》，能測試各種晶閘管（KP、KK、KA、KS）及晶閘管模塊的VDSM、VRSM、VDRM、VRRM、IDSM、IRSM、IDRM、IRRM與各種整流二極管（ZP、ZK）的VRSM、VRRM、IRSM、IRRM等參數(shù)。線路設(shè)計簡潔精煉，采用單片機控制，測試頻率有50Hz與5Hz轉(zhuǎn)換，在測高壓元件時可采用5Hz測試以減小附加發(fā)熱。具有體積小、重量輕、操作簡單、測試準、保護和維修方便等特點，是晶閘管及整流管器件廠、經(jīng)銷商及整機廠檢測器件伏安特性參數(shù)為的檢測設(shè)備。
主要技術(shù)指標：
1．峰值電壓測量范圍：0—600V、0—1000V、0—2000V可選，也可定制其它范圍
2．峰值漏電流測量范圍：0—200uA、0—1000uA、0—10mA，也可定制其它范圍
3．峰值漏電流保護設(shè)定范圍：同上對應(yīng)漏電流范圍
4．機內(nèi)示波器可觀看動態(tài)峰值電壓與峰值漏電流的變化伏安特性曲線波形
5．根據(jù)器件封裝可配測試管座
晶閘管綜合測試儀
對小功率可控硅研制開發(fā)的測試儀，可測試各種小型塑封管，型號包括 BTA16、MCR100-6、T410等。
該測試儀是符合國標GB4023-83《半導體器件整流二極管的測試方法》和GB-4024-83《半導體反向阻斷三極晶閘管的測試方法》，能測試各種晶閘管（KP、KK、KA、KS）及晶閘管模塊的VDSM、VRSM、VDRM、VRRM、IDSM、IRSM、IDRM、IRRM與各種整流二極管（ZP、ZK）的VRSM、VRRM、IRSM、IRRM等參數(shù)。線路設(shè)計簡潔精煉，采用單片機控制，測試頻率有50Hz與5Hz轉(zhuǎn)換，在測高壓元件時可采用5Hz測試以減小附加發(fā)熱。具有體積小、重量輕、操作簡單、測試準、保護和維修方便等特點，是晶閘管及整流管器件廠、經(jīng)銷商及整機廠檢測器件伏安特性參數(shù)為的檢測設(shè)備。
晶閘管綜合測試儀晶閘管綜合測試儀晶閘管綜合測試儀晶閘管綜合測試儀
主要技術(shù)指標：
1．峰值電壓測量范圍：0—600V、0—1000V、0—2000V可選，也可定制其它范圍
2．峰值漏電流測量范圍：0—200uA、0—1000uA、0—10mA，也可定制其它范圍
3．峰值漏電流保護設(shè)定范圍：同上對應(yīng)漏電流范圍
4．機內(nèi)示波器可觀看動態(tài)峰值電壓與峰值漏電流的變化伏安特性曲線波形
5．根據(jù)器件封裝可配測試管座
