詢價
- 企業類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：廈門
- 光譜范圍：0.2~9.0μm
- 最佳分辨率：13nm
- 最快成譜時間：13s
- 探測器制冷：Yes，-30℃
- 最大波段數：15000
- 最大光譜范圍：0.2~9.0μm
ATP7820系列是奧譜天成推出的一款覆蓋寬光譜范圍的高分辨率光譜儀，基于旋轉掃描光柵設計，可實現從紫外至中遠紅外波段的穩定光譜測量。該系列產品通過集成深度制冷探測器與模塊化配置，為材料分析、環境監測及工業應用提供了可靠且靈活的光學測量平臺。
核心設計與技術特點
ATP7820光纖光譜儀采用旋轉凹面光柵系統，通過軟件控制實現自動波長掃描，具備良好的波長重復性與穩定性。該系列產品覆蓋0.2–12.0 μm的寬光譜范圍，并提供多種波段型號，滿足不同應用場景的需求。系統采用TEC深度制冷技術，探測器工作溫度可降至?20℃以下，有效抑制熱噪聲，提升信噪比。光路結構經過優化設計，支持不同狹縫寬度的選擇，用戶可根據測量需求平衡光通量與光譜分辨率。
型號配置與關鍵參數
該光纖光譜儀系列包含多個型號，覆蓋從近紅外到中遠紅外的不同波段，例如ATP7820?25（0.2–2.5 μm）、ATP7820?50（0.2–5.0 μm）及ATP7820?120（0.2–12.0 μm）等。各型號均配備制冷型探測器，分辨率可根據所選光柵與配置進行調整。儀器支持SMA905光纖輸入與自由空間光輸入，數據通過USB 2.0或UART接口輸出，內置24位ADC，具有良好的數據采集精度。
系統集成與操作便捷性
光纖光譜儀采用緊湊型設計，尺寸為169×112×88 mm，重量約1200 g，便于集成到各類實驗與工業系統中。供電需求為+12V直流電源，工作電流低于3.3 A。操作全程可由計算機軟件控制，實現一鍵光譜采集與自動化掃描。設備還提供15針擴展接口，支持外觸發信號輸入，便于與外部設備同步。
應用領域
ATP7820光纖光譜儀系列適用于多種光譜分析與測量場景：
材料光學性質表征：用于測量固體、液體及薄膜樣品的吸收、反射與透射光譜。
高溫過程監測：適用于發動機尾焰、工業燃燒等高溫輻射體的光譜分析。
地物光譜與環境遙感：支持地面目標光譜采集，為環境監測、農業評估與資源勘探提供數據支持。
ATP7820系列憑借其寬波段覆蓋、穩定的制冷性能與可配置的光學系統，為科研與工業領域中的光譜分析提供了可靠且適應多種場景的測量解決方案。
