詢價(jià)
- 測(cè)試平臺(tái)：精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
- 探測(cè)器：Si-Pin探測(cè)器
- 工作原理：利用x射線對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā)，檢測(cè)熒光強(qiáng)度來?yè)Q算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大小：φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
X射線熒光納米測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹
X射線測(cè)厚儀是一種檢測(cè)金屬涂層厚度的工業(yè)儀器，是一種無損檢測(cè)設(shè)備。它具有X射線原理、檢測(cè)速度快、檢測(cè)精度高等優(yōu)點(diǎn)，被廣大電鍍廠選用。它是一種功能強(qiáng)大的儀器，配備了門到門開發(fā)的軟件，可以說是涂料行業(yè)的一種展示能力。Thick-800AX瑩光測(cè)厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)。該儀器用于涂料行業(yè)，可自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)檢測(cè)。軟件控制設(shè)備的測(cè)試點(diǎn)和移動(dòng)平臺(tái)。
參數(shù)規(guī)格
X射線熒光納米測(cè)厚儀型號(hào)：Thick-800A
元素分析范圍為硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可分析30多種元素，五層涂層。
ppm到99.9%的分析含量。
涂層厚度一般為50μm以內(nèi)(每種材料不同)
X射線瑩光納米測(cè)厚儀可選擇多種分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校準(zhǔn)模型。
多變量非線性回收程序
X瑩光測(cè)厚儀的溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源:交流220V±5V,建議配備交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H)mm
樣品室大小：500(W)×350(D)×140(H)mm
重量：90kg
產(chǎn)品特點(diǎn)
X射線瑩光納米測(cè)厚儀開放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)、探測(cè)器和x光管上下移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位設(shè)備。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子線路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)和噴碼機(jī)
主要優(yōu)點(diǎn)
X射線瑩光納米測(cè)厚儀滿足不同厚度樣品和不規(guī)則表面樣品的測(cè)試要求
φ0.1mm小孔準(zhǔn)直器能滿足細(xì)微測(cè)試點(diǎn)的需要
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度低于0.005mm
選用高度定位激光，可準(zhǔn)確定位檢測(cè)高度
定位激光確定定位光點(diǎn)，確保測(cè)試點(diǎn)與光點(diǎn)對(duì)齊
鼠標(biāo)可以控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析數(shù)據(jù)更加強(qiáng)大
良好的射線屏蔽效果
檢測(cè)口高度敏感性傳感器保護(hù)
產(chǎn)品用途
測(cè)量金屬涂層厚度，測(cè)定電鍍液和涂層含量。
X射線瑩光納米測(cè)厚儀主要用于貴金屬加工及裝飾加工行業(yè)；銀行、裝飾營(yíng)銷及檢測(cè)中心；電鍍行業(yè)。
