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- 品牌：仲達
- 質保：一年
- 原裝：正品
熒光光譜分析儀（通常指 X 射線熒光光譜儀，XRF）是一種快速、無損、多元素同時分析的精密儀器，廣泛用于貴金屬鑒定、合金成分、礦石、環(huán)保、RoHS、土壤等領域。你之前關注的測金儀，本質上就是專用型 XRF 光譜儀。
一、熒光光譜分析儀兩大核心技術類型（XRF）
1. 能量色散型（ED-XRF）—— 主流商用（你要找的）
原理：X 射線激發(fā)樣品，探測器直接收集所有元素的熒光能量，經(jīng)多道分析器解析出各元素種類與含量。
優(yōu)點：結構簡單、體積小、速度快（15-60 秒）、價格低、無損。
缺點：輕元素（Na、Mg、Al）檢測能力弱，精度略低于波長色散型。
適用：貴金屬（金 / 鉑 / 鈀）、合金、RoHS、土壤、礦石、回收。
2. 波長色散型（WD-XRF）—— 實驗室 / 工業(yè)高端
原理：類似棱鏡分光，用分光晶體將不同波長的 X 射線分開，逐一定量。
優(yōu)點：精度極高（ppm 級）、輕元素（O、Na、Mg）超強、穩(wěn)定性好。
缺點：體積大、價格高（幾十萬 - 上百萬）、速度慢、需水冷。
適用：水泥、鋼鐵、地質、大型企業(yè)質控。
二、熒光光譜分析儀核心結構（ED-XRF）
X 射線光管：發(fā)射高能 X 射線（激發(fā)源）。
探測器：SDD 硅漂移探測器（高端）、Si-Pin（主流）—— 決定精度與速度。
樣品腔：測試臺、防護罩（防輻射）。
光路系統(tǒng)：濾光片、準直器（優(yōu)化信號）。
軟件：解譜、定量分析、存數(shù)據(jù)、出報告。
三、熒光光譜分析儀關鍵選型參數(shù)（2026）
探測器：SDD > Si-Pin（分辨率、速度、輕元素能力）。
檢測元素：Na(11) ~ U(92)，必須含 Au、Pt、Pd、Ag、Cu、W、Ni（測金）。
精度：±0.03%~0.1%（黃金）；±0.1%~0.5%（合金）。
測試時間：15~60 秒 / 樣。
光斑：微光斑（≤1mm）—— 測小首飾、焊點。
功能：鎢錸報警（防金包鎢）、鍍層測厚、數(shù)據(jù)導出、證書打印。
形態(tài)：臺式（實驗室 / 門店）、便攜式（現(xiàn)場 / 上門）。
