詢價(jià)
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：廈門
- 光學(xué)設(shè)計(jì)：零像差非對(duì)稱C-T光路
- 光柵：塔式轉(zhuǎn)動(dòng)光柵
產(chǎn)品簡介：
ATP7380是奧譜天成集20年光譜儀研制經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)過5年的研發(fā)，推出的超高分辨率成像光譜儀，ATP7380成像型光柵光譜儀類似于PI公司的isoplane-SCT-320和SCT-160，內(nèi)置2-4片反射型光柵，光柵塔輪通過軟件控制，可精準(zhǔn)定位不同的光柵角度、波長、分辨率。 ATP7380成像型光柵光譜儀系統(tǒng)利用了仿真優(yōu)化的光學(xué)系統(tǒng)來確保高分辨率，該設(shè)計(jì)同時(shí)通過糾正像差、像差校正技術(shù)來提供多光纖同時(shí)成像的可能，空間通道數(shù)可達(dá)506通道。 ATP7380成像型光柵光譜儀有四款不同焦長的型號(hào)：210，350，510 和 810mm。每一個(gè)ATP7380成像型光柵光譜儀都可以覆蓋從紫外到近紅外、短波紅外波段的應(yīng)用。 ATP7380成像型光柵光譜儀可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測(cè)量所得的光譜數(shù)據(jù)。 ATP7380成像型光柵光譜儀所有的控制，均可以通過軟件進(jìn)行電動(dòng)控制。
關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)
光學(xué)設(shè)計(jì)：無像差非對(duì)稱 C-T 光路，環(huán)形鏡 + 像差校正系統(tǒng)；內(nèi)置 2–4 片反射光柵的塔式輪，軟件電動(dòng)控制（最小轉(zhuǎn)角 0.036 μrad），支持 90–3600 g/mm 多種光柵；雙入口（SMA905 光纖 + 自由空間），雙出口可接雙探測(cè)器（可見光 CCD + 近紅外 InGaAs）；支持多光纖陣列同時(shí)成像Optosky。
探測(cè)器與信號(hào)：TE 深冷 CCD（2048×506 像素， - 40℃/ 可選 - 70℃超低溫）、制冷 InGaAs 陣列；ADC 18 bit（輸出 16 bit）；動(dòng)態(tài)范圍：sCMOS/CCD>1400，SWIR InGaAs>10000；積分時(shí)間 8 ms–1.2 h；接口 USB2.0、UART，外觸發(fā)同步；12 V DC 供電（<5 A）。
環(huán)境與物理：工作溫度 - 20℃至 45℃，濕度 < 90%（無凝露）；尺寸隨焦距遞增，F(xiàn)L210 約 600×400×155 mm。
核心優(yōu)勢(shì)
空間 + 光譜雙維度：一次曝光同時(shí)獲取空間分布與對(duì)應(yīng)光譜，適合熒光成像、拉曼成像、薄膜均勻性檢測(cè)、生物組織光譜切片；空間通道數(shù) 506，可實(shí)現(xiàn)多光纖并行采集。
超高分辨率 + 寬波段：長焦距 FL810 配合高刻線光柵，可滿足激光線寬、拉曼、高分辨吸收 / 發(fā)射光譜；180–2500 nm 全覆蓋，可擴(kuò)展至中紅外（需定制探測(cè)器）。
模塊化與自動(dòng)化：光柵切換、波長掃描、積分時(shí)間全電動(dòng)；配套成像光譜分析軟件，兼容 LabVIEW 二次開發(fā)；提供濾光輪、光源、校準(zhǔn)系統(tǒng)等全套配件Optosky。
典型應(yīng)用
光譜成像：生物組織切片、植物葉片、半導(dǎo)體晶圓、文物無損檢測(cè)；
高分辨光譜：拉曼、熒光 / 光致發(fā)光（PL）、激光線寬、LIBS（激光誘導(dǎo)擊穿光譜）；
工業(yè)檢測(cè)：薄膜厚度均勻性、多組分混合材料的空間分布、環(huán)境污染物成像監(jiān)測(cè)。
