HQT-IA微電腦多功能電解測(cè)厚儀可用于對(duì)銅、鎳、鉻、鋅、銀、金、錫等鍍層,包括復(fù)合鍍2層或3層的每一層不同金屬鍍層的厚度也可測(cè)定.還可測(cè)定多層鎳的層間電位差。
HV-1000型顯微硬度計(jì)是采用精密機(jī)械技術(shù)和光電技術(shù)的新型顯微維氏和努氏硬度測(cè)試儀器。該機(jī)外觀新穎,采用微機(jī)控制,通過軟健能調(diào)節(jié)測(cè)量光源強(qiáng)弱,并能預(yù)置試驗(yàn)力保持時(shí)間,以LED顯示。該機(jī)采用獨(dú)特的壓痕測(cè)量轉(zhuǎn)換和測(cè)微目鏡測(cè)量讀數(shù)機(jī)構(gòu)。使用方便,測(cè)量高。 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量軟件采用原裝美國(guó)進(jìn)口專用測(cè)量軟件,具有國(guó)際先進(jìn)技術(shù)水平的功能強(qiáng)大的測(cè)量軟件包,其完善的測(cè)量功能和聯(lián)機(jī)功能為用戶提供了技術(shù)先進(jìn)、功能完善、性能穩(wěn)定的測(cè)量保證。產(chǎn)品規(guī)格用途:
本機(jī)適用于手機(jī)等產(chǎn)品翻蓋開合之壽命測(cè)試。規(guī)格:
1、型號(hào):KH-8342、整機(jī):包括三個(gè)自動(dòng)測(cè)試工位,可同時(shí)工作,也可單動(dòng)任一測(cè)試工位工作并可單獨(dú)計(jì)數(shù)
3、速率:一般適用折疊速度范圍為10?70次/分
4、計(jì)數(shù)器: 六位計(jì)數(shù)器,可設(shè)定測(cè)試次數(shù),并顯示當(dāng)前測(cè)試次數(shù)。
5、折疊角度范圍:0度?180度可調(diào)(適合手機(jī)翻蓋折疊角度范圍)。
6、程序:接通電源,開啟任一測(cè)試工位,能自動(dòng)完成所設(shè)定之測(cè)試項(xiàng)目
7、測(cè)試樣品規(guī)格(mm):長(zhǎng)20?130;寬15?80;厚5?30
8、電源:1∮,AC22V,3A,50HZ
公司簡(jiǎn)介
科衡檢測(cè)儀器有限公司是一家生產(chǎn)環(huán)境試驗(yàn)儀器的企業(yè),創(chuàng)業(yè)以來致力于技術(shù)研究與設(shè)備質(zhì)量改善,系列產(chǎn)品普遍受到電子科技、汽車工業(yè)、生化科技產(chǎn)業(yè)之客戶指定使用。公司本著創(chuàng)新、求精、服務(wù)之精神,不斷的提升產(chǎn)品之質(zhì)量質(zhì)量,并不斷的開發(fā)新的產(chǎn)品。近幾年為了能夠掌握更高、更精密之制造技能。故與制造廠家技術(shù)合作;從而提升市場(chǎng)之競(jìng)爭(zhēng)力,并不斷的降低制造成本,將其利潤(rùn)回饋給客戶,使其能擁有質(zhì)量?jī)?yōu)良、價(jià)格合理之產(chǎn)品。公司并本著服務(wù)客戶為其永續(xù)經(jīng)營(yíng)之理念。更著重于產(chǎn)品之售后服務(wù),讓客戶使用我司產(chǎn)品能夠滿意放心。進(jìn)而達(dá)到雙贏之目的。公司具代表產(chǎn)品有精密型鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)、鹽霧試驗(yàn)機(jī)、大型鹽霧試驗(yàn)室、可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)、高溫試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)、跌落試驗(yàn)機(jī)、投影儀、影像測(cè)量?jī)x、硬度計(jì)、測(cè)厚儀、插拔力試驗(yàn)機(jī)、轉(zhuǎn)軸壽命試驗(yàn)機(jī)、紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī)、酒精耐磨試驗(yàn)機(jī)、手機(jī)翻蓋試驗(yàn)機(jī)、手機(jī)滑蓋試驗(yàn)機(jī)、按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)、拉力試驗(yàn)機(jī)、蒸氣老化試驗(yàn)機(jī)、汽車模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái)、材料試驗(yàn)機(jī)、色差計(jì)、二次元、三坐標(biāo)、精密烤箱等,符合GB2423·17;GB/T5170·8-96,IEC68-2·11和ISO標(biāo)準(zhǔn)。以上是手機(jī)翻蓋壽命試驗(yàn)機(jī)|滑蓋壽命機(jī)|手機(jī)疲勞試驗(yàn)機(jī)的詳細(xì)信息,如果您對(duì)手機(jī)翻蓋壽命試驗(yàn)機(jī)|滑蓋壽命機(jī)|手機(jī)疲勞試驗(yàn)機(jī)的價(jià)格、廠家、型號(hào)、圖片有什么疑問,請(qǐng)聯(lián)系我們獲取手機(jī)翻蓋壽命試驗(yàn)機(jī)|滑蓋壽命機(jī)|手機(jī)疲勞試驗(yàn)機(jī)的新信息。




