NaU-E600能量色散型X熒光光譜儀主要特點：

全光路輻射護；全自動模塊化控制；人性化操作界面；綜合應用經驗系數法、基本參數法等多種經典分析方法, 可滿足RoHS/WEEE相關管控要求。精心設計的開放性工作曲線功能，根據企業物料情況量身定做，從而得到為準確、的分析測試結果，適用于多材料的工廠制程控制。

 納優系列儀器合國際電工委員會IEC62321標準及中國標準所規定的技術要求和技術規范。

•   自選式功能組合
    用戶根據自己的控制要求，可自主選擇多元素測試軟件或膜厚測試軟件（二選一）
•   全自動配置
    全自動化的操作模式、人性化的操作界面，測試人員通過鼠標即可完成操作(原級濾光片、準直器、樣品的移動和樣品蓋的開關、工作曲線的選擇實現自動化控制，程序會根據預先設定的測試條件自動進行的切換動作)；

•   照射區控制系統
    可調整的X光照射區域控制系統，實現了對測試區域的準確把握。測試數據與實際檢測區域的對應。

•   成熟、經典的分析方法：
    憑借“七·五”“九·五”科技攻關計劃之科技成果，集成近二十五年分析測試應用經驗的經典數學分析模型，為測試者提供、精準、穩定的分析結果。

•   強大的軟件功能
    1、分析軟件可根據樣品材質、形狀、大小的不同自動設定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發揮探測器性能，大幅測量；

    2、提供開放式工作曲線標定技術平臺,可為每家用戶量身定做的有害物質檢測和控制方案；

    3、融合了一系列的光譜處理方法，包括FFT（快速傅立葉變換濾波）、精準的背景扣除方法、微商自動尋峰和Quasi-Newton(準牛頓)優化算法等；

    4、國際的XRF分析軟件，融合了包括經驗系數法、基本參數法（FP法）、理論α系數法等多種經典分析方法，測試數據的準確性。

•   開放性工作曲線
    用戶可很方便的根據自身材質狀況，針對性的建立風險材料的工作曲線，工作曲線與被測材料的對應性。從而大幅度風險物質的檢測，來料允收判定依據的性。

•   嚴謹的硬件集成與結構設計
    對可能影響整機度及穩定性的器件，采用高端原廠器件。

    模塊化設計與組件選擇，了整機性能的穩定性與未來服務的操作簡便性。

    設計的原級、二次濾光系統，既了對有害元素的激發效率，同時降低了作為干擾因素的背景強度，充分峰背比，大幅度降低檢出下限。

•   全光路射線護系統
    X光管、探測器、復合濾光處理系統、CCD、定位系統、全自動準直器切換系統等光路處理器件均集成在密閉結構中。光路系統的穩定性與密閉性，充分了測試。

    合理的8種復合濾光片組合和自動切換系統，既可以降低來自原級X射線干擾的影響，被測元素的靈敏度和測試，同時還具有輻射自動護功能，保護操作者。

    散熱系統，大幅度提供儀器的性。全光路射線護設計，又避免了無射線區域的無謂屏蔽與保護，進一步了散熱效率。了儀器的環境適應性與穩定性。

    全光路輻射護配合經典的迷宮式輻射護設計，同時采用軟、硬件雙重連鎖，操作人員人身。

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NaU-E600 產品參數(product parameter)

產品名稱 (product name)：Nayur X熒光無鹵分析儀 (Nayur halogen-free XRF)

型    號(te)：NaU-E600

測試對象(test object)：粉未、固體、液體(powder, solid, liquid)

測量時間(test time)：100-200s

管壓(tube voltage)：10KV-50KV

管流(tube flow)：50uA-1000uA

環境溫度(environment temperature)：15℃-30℃

環境濕度(environment humidity)：30%-80%

樣品腔面積(sample cavity dimension )：400mm×400mm×100mm

外形尺寸(instrument dimension)：730mm×440mm×330mm

重量(weight)：30Kg

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NaU-E600 產品配置( product configure)

高分辨率電制冷半導體探測器(high-resolution electric refrigeration semiconductor detector)

鹵素測試配件(halogen test accessory)

光路優化系統(optical optimization system )

內置高清晰CCD攝像頭(high-resolution CCD camera)

自動切換準直器和濾光片collimators and filters automatic switching system

全自動定位測試系統(automatic positioning test system)

樣品倉自動開關裝置(fully automatic sample cavity)

三重保護模式（triple security protected mode）