新一代設計的 PHOTON RT 是測量光學部件鍍膜特性的型分光光度計，根據光譜范圍可以選擇六種配置（190-1700nm, 190-2700nm, 190-4500nm, 380-1700nm, 380-2700nm與380-4500nm)。寬光譜范圍可從190nm-4500nm。該儀器的設計改變了行業的測量觀念，致力于提供簡潔、靈活與速度快的操作。無需任何額外附件與成本，可以實現寬角度的的反射率與率測量，以及實現偏振模式測量，設計的分光光度計包含參考通道，能對直徑范圍從10mm到120mm的光學部件進行測量研究。
基于光譜光度逆向工程可以測量紫外可見近紅外全光譜范圍內薄膜材料的折射率n、吸收系數k與薄膜厚度d, 了強大的QA/QC分析與研究開發。
Photon RT分光光度計高高重復性測量，光譜分辨率1.2nm，光度計的為0.0050，重復性0.0025，合各類研究分析的現代需求。裝置結實緊湊，可每天的頻繁使用。主機有一個大的蓋子，為測量艙提供一個簡單和方便的通道，光學部件可放置。
測量能力:
? 率T, Ts, Tp ( 0-75°角度范圍)
? 反射率 R, Rs, Rp (8–75°角度范圍)
? 根據給定入射角計算T(s+p)/2和R(s+p)/2
? 樣品的光學密度, 0 – 4 (D)
? 紫外可見近紅外全光譜范圍內逆向工程的無衰減（自動）nkd測定
? 偏振分束片的測量
? 特定光譜范圍內R和T的積分值
? 和反射的光散射特征線
? 顏色坐標
? 動態測量
參數
描述 光學配置
單色儀設計 Cherny-Turner
光學元件 Mirror, Al + SiO2, Al+MgF2
參考通道 有
波長取樣間距， nm 0,5 to 100
波長掃描速度，nm / min 3 000 (at 5 nm wavelength sampling pitch)
到樣品光斑尺寸，mm 6*1
光度函數 %T, %R
樣品臺的調整間距角 0,1?
探測器的調整間距角 0,1?
樣品臺調整間距角的定位 0,05?
光譜范圍, nm 190-1700, 190-2700, 190-4500, 380-1700, 380-2700, 380-4500
光譜分辨率, nm
200-1000 nm Up to 1,2
1000-2700 nm Up to 2,4
2500-4000 nm Up to 4,8
波長,, nm +/- 0,24
波長重復, nm +/- 0,12
散射光水平 max %（@532nm) <0,002
光束發散角 2?
光度計 0,00020 х T
光度計重復 0,0001x T
基線穩定性, %/hour 0,1 (30 分鐘預熱時間)
光源 Deuterium lamp, Halogen lamp
偏振器 s – 偏振
p – 偏振
樣品臺 測量尺寸大于12x10mm尺寸平面樣品的反射
設定 樣品臺與光電探測器的定位
同步設定 依賴于所選定光度計函數（R或T）的樣品臺與光電探測器的同步定位
樣品尺寸 小 12x10 mm – 10度角測量
小 12x25 mm – 10-60度角測量
樣品尺寸-. ?120mm
接口 U 2.0
功率 110
電壓 110/220 V, 50/60 Hz
寬x 深 x 高, mm 420 x 610 x 270
凈重, kg 35
清單 PHOTON RT 分光光度計， 操作手冊 ，USDx線, 電源線,
*30分鐘預熱
