*平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。
*平行平晶具有高的平面性和平行性。
*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。平行平晶共分四個(gè)系列,每個(gè)系列各分六組,每組四塊。
產(chǎn)品名稱平行平晶
功能:平行平晶用于干涉法測(cè)量千分尺、卡規(guī)和千分表等測(cè)量面平面度、平面平行度。
產(chǎn)品規(guī)格:
每組平行平晶共四塊,分四個(gè)尺寸系列組
測(cè)量范圍:組Ⅰ系列:0~25mm
組Ⅱ系列:25~50mm
組Ⅲ系列:50~75mm
組Ⅳ系列:75~100mm
測(cè)量面上平面度偏差 <0.1μm
平面度局部偏差 >0.03μm
測(cè)量面平行度誤差:組Ⅰ系列允差值:0.06μm
組Ⅱ,Ⅲ系列允差值:0.08μm
組Ⅳ系列允差值:0.1μm
平晶直徑 φ30mm,φ40mm,φ40mm,φ50mm
注:測(cè)量工作應(yīng)在室溫20±3℃條件下,保持?jǐn)?shù)小時(shí)后進(jìn)行




