上海 供應數顯立式光學計JDG-S2 光學計的詳細信息

本儀器是一種采用量塊或標準零件與試件相比較的方式測量物體外形尺寸的儀器。主要用于五等量塊，柱型規(guī)及各種圓柱形，球形，線形等物體的直徑或板形物體的厚度的精密測量，對被測件作微小位移測量。亦可用來控制精密零件的加工。 技術參數 被測件長度 180 mm直接測量范圍 ≥10 mm小顯示值 0.0001 mm測量力 (2 ±0.2) N不準確度 比較測量時： ±0.00025 mm 直接測量時： ±0.0005mm測量誤差 ±(0.5 L/100) μm L是被測長度 mm儀器體積 250 × 150 × 440 mm儀器重量 18 kg標準配件 可調帶筋園臺、可調園平臺、平面測帽、平面測帽、小球面測帽、刃形測帽