儀器介紹：
NanoIR測試平臺將可調制紅外光源與AFM掃描模塊完美結合，同時實現高分辨率材料納米尺度上的形貌、紅外光譜、熱以及力學性能成像分析。該技術榮獲2010年度美國R&D100大獎。
主要參數：
光譜范圍：1200-3600cm-1
光譜分辨率：<16 cm-1
成像尺寸：100μmX100μm
單幅光譜獲取時間：<1分鐘/每幅
主要特點：
獨有技術突破傳統紅外光譜衍射極限，實現納米尺度紅外光譜采集
可同時獲得納米尺度上的形貌、紅外光譜、熱以及力學性能成像分析
NanoIR測試平臺將可調制紅外光源與AFM掃描模塊完美結合，同時實現高分辨率材料納米尺度上的形貌、紅外光譜、熱以及力學性能成像分析。該技術榮獲2010年度美國R&D100大獎。
主要參數：
光譜范圍：1200-3600cm-1
光譜分辨率：<16 cm-1
成像尺寸：100μmX100μm
單幅光譜獲取時間：<1分鐘/每幅
主要特點：
獨有技術突破傳統紅外光譜衍射極限，實現納米尺度紅外光譜采集
可同時獲得納米尺度上的形貌、紅外光譜、熱以及力學性能成像分析
