TRACEIT 便攜式三維形貌儀
我公司設計了世界上臺便攜式光學三維形貌儀，10秒鐘即可測量材料表面的三維輪廓，粗糙度Ra/Rq/Rz，孔隙率，有效接觸面積，并同時原位記錄材料表面的視覺圖像。我公司有兩款便攜式三維形貌儀（TRACEiT®-MICRO和TRACEiT-MIDI®），其快速，便捷，準確的測量方法幾乎可以在任何地點進行測量，廣泛應用于產品的質量檢驗和研發中。
應用領域
♦ 對文物清洗效果進行無損檢測、評估
♦ 修復、加固效果評估
♦ 古代紙張、絲織品分析鑒定
♦ 用于考古現場記錄
♦ 汽車、航空、船舶工程（皮革、紡織品、涂裝、塑膠）
TRACEiT®-MICRO便攜式光學三維形貌儀基本介紹
TRACEiT®-MICRO便攜式光學三維形貌儀包含一個手持式光學測量頭和專用便攜式電腦，在5mm × 5mm范圍內對x及y方向各進行高達1500次的測量，從而得出平均數值及標準偏差。 同時，設備的專用軟件還可進一步評估特定范圍內材料表面的性能。該儀器擁有封閉式設計，因此其測量結果重復性和再現性高。
設備優點
★ 高
★ 快速測量
★ 便攜式設計
★ 多參數數據分析
★ 重復性、再現性高
★ 技術可同時測量三維形貌和視覺效果
技術參數
基本介紹
TRACEiT-MIDI®便攜式光學三維形貌儀包含一個手持式光學測量頭，專用便攜式數據采集系統，ipod操作控制系統。測量范圍可達標準A4紙，度可達100um。 同時，專用軟件還可用來進一步評估特定區域內材料表面的性能。
設備優點
¤ 便攜式設計
¤ 技術可同時測量三維形貌和視覺效果
¤ 同時3D建模
¤ 便捷使用
¤ 高
¤ 重復性、再現性高
¤ 快速測量
¤ 多參數數據分析：粗糙度，高度，深度等
技術指標
備選設備
COPRA® 掃描計算系統
該系統可以用來計算材料的
☆ 表面結構
☆ 涂層
☆ 印壓
☆ 磨耗及磨損
☆ 顆粒度及孔隙度
該掃描計算系統特別設計用來整理及評估磨損結果，亦可用于評估其他各種表面的特性。計算參數包括：
♦ 顆粒度分布（數量、面積、大小及百分比）
♦ 平均值（包含標準偏差）
♦ 孔隙度分布
♦ 灰階表面形貌影像的高度分析
♦ 方位長度剖面
♦ 磨耗及磨損分析
我公司設計了世界上臺便攜式光學三維形貌儀，10秒鐘即可測量材料表面的三維輪廓，粗糙度Ra/Rq/Rz，孔隙率，有效接觸面積，并同時原位記錄材料表面的視覺圖像。我公司有兩款便攜式三維形貌儀（TRACEiT®-MICRO和TRACEiT-MIDI®），其快速，便捷，準確的測量方法幾乎可以在任何地點進行測量，廣泛應用于產品的質量檢驗和研發中。
應用領域
♦ 對文物清洗效果進行無損檢測、評估
♦ 修復、加固效果評估
♦ 古代紙張、絲織品分析鑒定
♦ 用于考古現場記錄
♦ 汽車、航空、船舶工程（皮革、紡織品、涂裝、塑膠）
TRACEiT®-MICRO便攜式光學三維形貌儀基本介紹
TRACEiT®-MICRO便攜式光學三維形貌儀包含一個手持式光學測量頭和專用便攜式電腦，在5mm × 5mm范圍內對x及y方向各進行高達1500次的測量，從而得出平均數值及標準偏差。 同時，設備的專用軟件還可進一步評估特定范圍內材料表面的性能。該儀器擁有封閉式設計，因此其測量結果重復性和再現性高。
設備優點
★ 高
★ 快速測量
★ 便攜式設計
★ 多參數數據分析
★ 重復性、再現性高
★ 技術可同時測量三維形貌和視覺效果
技術參數
| 度 | 1.5µ m |
| 測量面積 | 5 mm × 5 mm |
| 測量時間 | 10秒 |
| Z軸測量高度 | 800µ m |
TRACEiT-MIDI®便攜式光學三維形貌儀
基本介紹
TRACEiT-MIDI®便攜式光學三維形貌儀包含一個手持式光學測量頭，專用便攜式數據采集系統，ipod操作控制系統。測量范圍可達標準A4紙，度可達100um。 同時，專用軟件還可用來進一步評估特定區域內材料表面的性能。
設備優點
¤ 便攜式設計
¤ 技術可同時測量三維形貌和視覺效果
¤ 同時3D建模
¤ 便捷使用
¤ 高
¤ 重復性、再現性高
¤ 快速測量
¤ 多參數數據分析：粗糙度，高度，深度等
技術指標
| 度 | 100µ m |
| 測量面積 | 30mm× 20 mm |
| 測量時間 | 10秒 |
| Z軸測量高度 | 800 mm |
備選設備
COPRA® 掃描計算系統
該系統可以用來計算材料的
☆ 表面結構
☆ 涂層
☆ 印壓
☆ 磨耗及磨損
☆ 顆粒度及孔隙度
該掃描計算系統特別設計用來整理及評估磨損結果，亦可用于評估其他各種表面的特性。計算參數包括：
♦ 顆粒度分布（數量、面積、大小及百分比）
♦ 平均值（包含標準偏差）
♦ 孔隙度分布
♦ 灰階表面形貌影像的高度分析
♦ 方位長度剖面
♦ 磨耗及磨損分析
