高質量水準的CHER儀器是多年的工業領域經驗積累，廣泛的科研及與有名望的合伙人合作的結果。 CHER是的和勝任的合作伙伴，能提供正確的建議，廣泛的服務和應用培訓研討會。
今天，CHER儀器已成功應用于工業，科研及的工程領域
的設備遵循ASTM B568， DIN 50 987和 ISO 3497等和國際標準。 HELMUT CHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統有過17年的經驗。通過對相關過程包括X射線熒光測量法的處理和使用了新的軟件和硬件技術，CHER公司的X射線儀器具有其的特點。
的WinFTM?（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的。它可以使儀器在沒有標準片校準并測量的情況下測量復雜的鍍層系統，同時可以對包含多達24種元素的材料進行分析（使用WinFTM? V.6軟件）
典型的應用范圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Br，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
多24種鍍層（使用WinFTM? V.6軟件）。
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。
